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Laser Scanning Mikroskope

Sensitives, spektrales Konfokal-Imaging und Topographie

Ihre ZEISS Laser Scanning Mikroskope – sensitives, spektrales Konfokal-Imaging und Topographie

Konfokale Scanning-Mikroskope

Ein konfokales Laser Scanning Mikroskop scannt eine Probe sequenziell Punkt für Punkt und Zeile für Zeile, um ein Bild zu erstellen. Die Pixel-Informationen werden zu einem Bild zusammengefügt. So werden optische Schnitte der Probe mit hohem Kontrast und hoher Auflösung in x-, y- und z-Richtung abgebildet. Die LSM 8 Familie mit optionaler GaAsP-Detektion und Airyscan bietet eine überlegene Bildqualität bei höchster Empfindlichkeit für quantitatives Imaging in den Biowissenschaften. Verwenden Sie LSM 800 for Materials für anspruchsvolle topografische Analysen auf Materialoberflächen.

 

LSM 800

Ihr flexibles und kompaktes konfokales Laser Scanning Mikroskop mit hochsensitiver GaAsP-Detektion und schnellem linearem Scanning. Fügen Sie Airyscan hinzu, das revolutionäre Detektionskonzept von ZEISS, und erzielen Sie eine 1,7x höhere Auflösung in allen drei Dimensionen.

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LSM 800 for Materials

Charakterisieren Sie 3D Oberflächen in Ihrem Labor oder in Ihrer Multi-User-Einrichtung. LSM 800 ermöglicht Ihnen präzises, dreidimensionales Imaging und die Analyse von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern. 

 

 

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LSM 880

Ihr flexibles und modulares Laser Scanning Mikroskop für anspruchsvolles Fluoreszenz-Imaging. Fügen Sie Airyscan hinzu für ein optimales Signal-Rausch-Verhältnis, höchste Auflösung und Geschwindigkeit. Kombinieren Sie LSM 880 mit NLO-Funktionalität für Multiphotonen-Experimente oder ELYRA für hochauflösendes Imaging.

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LSM 700 für Materialanalyse

Ihr Spezialist für berührungslose Messungen. Das konfokale Mikroskop sowohl für den Einsteiger als auch für den routinierten Anwender. LSM 700 liefert außerordentliche Präzision zu einem attraktiven Preis/Leistungs-Verhältnis.

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Smartproof 5

Nutzen Sie das vielseitige Weitfeld-Konfokalmikroskop für industrielle Anwendungen, wie die Charakterisierung von Rauigkeit und Topographie.

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