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ZEISS Xradia 510 Versa

Ihr 3D-Imaging-System für den Submikron-Bereich mit wegweisender Flexibilität

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ZEISS Xradia 510 Versa

Vielseitigkeit auch bei großen Arbeitsabständen - mm bis mehrere Zoll von der Quelle

Forschen Sie in neuen Dimensionen mit ZEISS Xradia 510 Versa 3D Röntgenmikroskopen (XRM), der branchenführenden In Situ / 4D-Lösung. Dank unserer einzigartigen RaaD (Resolution at a distance) Funktion ändert sich die Ein-Mikron-Auflösungsbarriere für Proben von Millimetern auf Zentimeter. Profitieren Sie von der leistungsstärksten Kombination einer Auflösung der Weltklasse und flexiblen Arbeitsabständen und nutzen Sie die Kraft des zerstörungsfreien Imaging in Ihrem Labor.

Räumliche Auflösung im echten Sub-Mikrometer-Bereich mit Entfernungen von wenigen Millimetern bis mehreren Zoll von der Quelle

 

Maximieren Sie die Leistung der Röntgenmikroskopie (XRM) mit Xradia 510 Versa für flexibles 3D-Imaging in verschiedensten Forschungsumgebungen. Xradia 510 bietet eine echte räumliche Auflösung von 0,7 μm mit verfügbaren Voxel-Größen unter 70 nm. Erleben Sie größere Vielseitigkeit für weiche Materialien und Materialien mit niedrigem Z mit erhöhtem Absorptionskontrast und innovativem Phasenkontrast und überwinden Sie so die Grenzen der herkömmlichen Computertomografie.

Erzielen Sie eine Leistung jenseits der Mikro-CT und erweitern Sie die wissenschaftliche Forschung jenseits der Grenzen von Flat Panel-Systemen. Wo die herkömmliche Tomografie mit einstufiger geometrischer Vergrößerung an ihre Grenzen stößt, bieten Xradia Versa Instrumente einen einzigartigen zweistufigen Prozess mit einer Röntgenoptik in Synchrotron-Qualität und einem für Auflösung, Kontrast und hohe Auflösung bei großen Arbeitsabständen optimierten Detektionssystem. Die wegweisende ZEISS Resolution at a Distance (RaaD) ermöglicht eine beispiellose Laborexploration verschiedenster Anwendungs- und Probentypen.

Zerstörungsfreie Röntgen- und flexible Mehrlängen-Funktionen ermöglichen es Ihnen, dieselbe Probe mit verschiedenen Vergrößerungen aufzunehmen. Als branchenführende 4D-/ In Situ-Lösung charakterisiert Xradia Versa die Mikrostruktur von Materialien in ihrer nativen Umgebung und ermöglicht auch das Studium der Entwicklung von Eigenschaften über die Zeit hinweg. Das optional erhältliche Versa In Situ Kit ermöglicht es Ihnen, die Einrichtung zu optimieren. Es erleichtert die Bedienung, liefert schnellere Ergebnisse und organisiert die Funktionen, die In Situ-Vorrichtungen unterstützen (wie Kabel und Rohre). Dies ermöglicht eine maximale Imaging-Performance und eine optimale Bedienungsfreundlichkeit.

Zusätzlich ermöglicht das Scout-and-Scan-Kontrollsystem eine effiziente Workflow-Umgebung mit rezeptbasierter Einrichtung, die Xradia 510 Versa für Nutzer verschiedenster Erfahrungsstufen geeignet macht.

Die Architektur von Xradia Versa arbeitet mit einer zweistufigen Vergrößerung und ermöglicht eine einmalige Distanzauflösung (RaaD). In der ersten Stufe werden Proben durch geometrische Vergrößerung wie beim herkömmlichen Mikro-CT vergrößert. In der zweiten Stufe wandelt ein Szintillator Röntgenstrahlen in sichtbares Licht um, das dann optisch vergrößert wird. Dank der geringeren Abhängigkeit von geometrischer Vergrößerung können Xradia Versa Instrumente auch bei großen Arbeitsabständen eine Auflösung im Sub-Mikrometerbereich aufrechterhalten. Dies ermöglicht das effektive Studium einer Vielzahl von Probengrößen selbst in In situ-Kammern. Außerdem stehen Ihnen verschiedene andere Funktionen zur Verfügung, die die Vorteile der Kernarchitektur des Systems vergrößern.

  • Schützen Sie Ihre wertvollen Proben durch zerstörungsfreies 3D-Imaging und verlängern Sie ihre Nutzungsdauer
  • Erzielen Sie mit dem einzigartigen Design von Versa höchste Auflösungen bei größten Arbeitsabständen von der Quelle - eine Voraussetzung für In Situ-Imaging und die Abbildung großer Proben
  • Mehr-Längen-Imaging derselben Probe mit verschiedenen Vergrößerungen, echte räumliche Auflösung von <0,7 µm und verfügbare Voxel-Größen unter 70 nm
  • Branchenführende 4D- und In Situ -Funktionen, die verschiedene In Situ-Vorrichtungen für die Abbildung von Proben in praktischen Größen (Millimeter bis Zoll) im Sub-Mikrometer-Bereich mit Gewichten bis 25 kg und Probengrößen bis 300 mm unterstützen
  • Die einzigartige Architektur mit zweistufiger Vergrößerung ermöglicht eine einfache Navigation durch das Detektorsystem mit multipler Vergrößerung, den laufenden Betrieb durch automatisierte Mehrpunkt-Tomografie und repetitives Scannen sowie eine schnelle Rekonstruktion
  • Fortgeschrittener Absorptions- und Phasenkontrast für Materialien mit niedrigem Z und weiche Gewebe
  • Scout-and-Scan™ Steuersystem für die bedienungsfreundliche Workflow-Einrichtung mit idealer Eignung für Multi-User-Umgebungen
  • Minimale Probenvorbereitung
  • Das optional erhältliche Versa In Situ-Kit organisiert die Funktionen, die Umweltkammern unterstützen (wie Kabel und Rohre) und gewährleistet so eine maximale Imaging-Performance und eine einfache Einrichtung 
  • Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten, um die Produktivität zu maximieren und die Arbeitsabläufe für großvolumiges Scannen zu automatisieren.

Materialwissenschaft
Erweitern Sie Ihre Forschungskapazitäten in der Materialwissenschaft, gleich ob es um die Darstellung von Rissen in weichen Verbundmaterialien oder um die Messung von Porosität von Stahl in einem einzigen System geht. Führen Sie In Situ-Studien durch, indem Sie Abbildungen unter verschiedenen Bedingungen wie variablen Zug-, Kompressions-, Gas-, Oxidations-, Benetzungs- und Temperaturbedingungen erstellen. Sie können auch Materialien abbilden, die mit Vakuum und geladenen Strahlteilchen inkompatibel sind.

Xradia 510 Versa ermöglicht Einblicke in tief verborgene Mikrostrukturen, die mit 2D-Oberflächen-Imaging wie optischer Mikroskopie, SEM und AFM möglicherweise nicht sichtbar gemacht werden können. Sie können die Distanzauflösung für In Situ-Imaging-Experimente aufrechterhalten und so mit In Situ-Apparaten eine große Vielfalt an Probengrößen und ‑formen studieren. Analysieren Sie die Auswirkungen dieser variablen Bedingungen über die Zeit hinweg mit zerstörungsfreien Röntgenstrahlen.

Natürliche Ressourcen
Charakterisieren und quantifizieren Sie Porenstruktur und Konnektivität, verstehen Sie Porosität und Permeabilität, analysieren Sie die Mineralfreisetzung und studieren Sie die Effektivität der Kohlenstoffbindung. Erleben Sie die optimale 3D-Charakterisierung von Gesteinsporenstrukturen im Sub-Mikrometer-Bereich für digitale Gesteinssimulationen und führen Sie mehrphasige In situ-Fluidströmungsstudien durch.

Life Sciences
Nutzen Sie hohe Auflösung und die starken Kontraste, um ungefärbte und gefärbte harte und weiche Gewebe zu erforschen. Quantifizieren Sie Osteozyt-Eigenschaften für die Knochenmorphologie, bilden Sie neuronale Netzwerke ab und studieren Sie die Vaskulatur und die Entwicklung biologischer Strukturen.

Elektronik
Optimieren Sie Ihre Verfahren und analysieren Sie Fehler. Bilden Sie intakte Pakete im Sub-Mikrometer-Bereich zerstörungsfrei ab, um Fehler zu lokalisieren und zu charakterisieren. Messen Sie verborgene Funktionen in drei Dimensionen. Xradia Versa ist das System mit der branchenweit höchsten Auflösung für zerstörungsfreies 3D-Imaging im Sub-Mikrometer-Bereich, das physische Querschnittmethoden ergänzt oder ersetzt.

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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