Kombiniertes CNC-Referenzgerät für Kontur und Oberfläche

SURFCOM CREST

Das Flaggschiff in der kombinierten Kontur- und Oberflächenmesstechnik von ZEISS verfügt über eine hohe Auflösung und ein laserinterferometrisches Messsystem

Das Flaggschiff in der kombinierten Kontur- und Oberflächenmesstechnik

SURFCOM CREST verfügt über eine hohe Auflösung und ein laserinterferometrisches Messsystem und findet oft Einsatz in Kalibrierlaboren.

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SURFCOM CREST

Features

Präzise, universell, dynamisch

SURFCOM CREST setzt Maßstäbe hinsichtlich Genauigkeit und Geschwindigkeit. Das Gerät misst Oberflächenparameter und Konturen in einem Arbeitsschritt und besticht durch ein extrem gutes Verhältnis zwischen Messbereich und Auflösung von 42.000.000:1.

Dadurch kann SURFCOM CREST kleinste Rautiefen und Konturen über einen sehr großen Bereich innerhalb eines Messablaufs fähig messen. SURFCOM CREST arbeitet in der Z-Achse mit einem Laserinterferometer als Messsystem und kann deshalb höchste Genauigkeit vorweisen.

Der Messplatz verfügt über einen Linearantrieb und ist damit deutlich schneller und vibrationsärmer als Messgeräte mit klassischen Spindelantrieben. Zusätzlich erlaubt der lineare X-Vorschub eine höhere Flexibilität bei schrägen Werkstücken, da er geschwenkt werden kann.

Das Flaggschiff in der kombinierten Kontur- und Oberflächenmesstechnik von ZEISS verfügt über eine hohe Auflösung und ein laserinterferometrisches Messsystem
Wo Präzision und Durchsatz eine Rolle spielen, bringt SURFCOM CREST seine Stärken ein

Wo Präzision und Durchsatz eine Rolle spielen

SURFCOM CREST bringt seine Stärken ein, wo Präzision und Durchsatz eine wichtige Rolle spielen: in der Automobiltechnik, im Maschinenbau- sowie Medizintechnikumfeld.

Beispielsweise ist SURFCOM CREST für Linsen, genaue Lager, Antriebsspindeln, Rails, Injektoren, Implantate und exakte Fräs-, Schleif-, Hohn- und Läppteile bestens geeignet. Deshalb findet SURFCOM CREST seine Verwendung häufig in Kalibrierlaboren.

Vorteile

  • Rauheit und Kontur in einem Messablauf messen
  • Geringe Messabweichung in X-Richtung: ± (0,2+L/1.000) µm; ± 0,4 µm bei L=200 mm
  • Geradheitsabweichung Vorschub: 0,05 + (3L/10.000) µm; 0,11 µm/200 mm
  • Messsystem (X-Achse): Beugungsmaßstab
  • Messsystem (Z-Achse): Laserinterferometer für höchste Genauigkeit
  • Extrem gute Auflösung des Tastsystems von 0,31 Nanometern/50 mm
  • Universeller und genauer durch Verhältnis von Messbereich zu Auflösung (42.000.000:1)
  • Hohe Verfahrgeschwindigkeit von bis zu 200 mm/s
  • 200-mm-Vorschub mit patentiertem, kontaktlosem Linearantrieb
  • Höhere Flexibilität durch schwenkbaren X-Vorschub um ± 45°
  • Große Eintauchtiefen für Messungen an tiefer gelegenen Werkstückteilen durch zylindrisches Tastsystem
  • Optionale Topografiemessung
  • Untergestelle: solide und preisgünstige FX-Version mit integrierter, aktiver Schwingungsdämpfung, fertigungstaugliche

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