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Oberflächenmessgerät für jede Anwendung
SURFCOM NEX Serie

Volle Flexibilität für Ihre Anwendung
Die Kontur- und Oberflächenmessgeräte von ZEISS bieten verschiedene, teilweise kombinierbare Sensoren für Rauheitsmessungen, Konturmessungen oder beides.
SURFCOM NEX Serie
FeaturesZukunftsfähig und vielseitig
- Mit zwei verschiedenen Granit-Messtischen und drei verschiedenen Säulengrößen bietet ZEISS ein breites Angebot an Lösungen für unterschiedliche Anwendungen
- Zukunftsweisend durch Multisensorfähigkeit (optische und taktile Sensoren)
- Alle Taster sind ohne Werkzeug oder Schrauben wechselbar
Möbellösungen
Verschiedene Möbelvarianten komplettieren die SURFCOM NEX Serie:
- fertigungstaugliche, platzsparende DX-Variante
- solide, preisgünstige FX-Version mit integrierter aktiver Schwingungsdämpfung oder umfangreiches SD-Schreibtischmöbel
Optionale Funktionen
- Höhere Produktivität durch vollautomatische Messungen mit optionalem CNC-Baukasten
- Optionale Topographiemessung (optisch oder taktil)
Patentierter magnetischer Linearantrieb für effizientere Messungen
Der patentierte Linearantrieb des SURFCOM NEX erlaubt hohe Mess- und Positioniergeschwindigkeiten und sorgt für genauere Ergebnisse im Vergleich zu konventionellen Geräten mit Spindelantrieb.
Optionen
Die SURFCOM NEX Serie bietet ein breites Spektrum an Möglichkeiten. So bieten wir Ihnen die beste Lösung für Ihre Anwendung.
Technische Daten SURFCOM NEX
SURFCOM NEX 001
X/C |
Messbereich Z für Rauheit |
Auflösung Rauheit |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
200/250 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
100/450 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
200/450 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
100/650 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
200/650 |
max. 1000µm |
min. 0,1nm |
+/- 2% on 20µm periode |
0,05+L/1000µm |
Optional: Messbereich Z für Kontur mit Standardtaster
SURFCOM NEX 030
X/C |
Messbereich Z für Kontur |
Auflösung Kontur |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/250 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
100/450 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/450 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
100/650 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/650 |
60mm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
Optional: Messbereich Z für Rauheit mit Standardtaster
SURFCOM NEX 040
X/C |
Messbereich Z für Kontur |
Auflösung Kontur |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/250 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
100/450 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/450 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
100/650 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
200/650 |
60mm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
1µm/100mm |
Optional: Messbereich Z für Rauheit mit Standardtaster
SURFCOM NEX 031
X/C |
Messbereich Z für Rauheit |
Messbereich Z für Kontur |
Auflösung Rauheit |
Auflösung Kontur |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/250 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/450 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/450 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/650 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/650 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,04µm |
+/-(1,5+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
SURFCOM NEX 041
X/C |
Messbereich Z für Rauheit |
Messbereich Z für Kontur |
Auflösung Rauheit |
Auflösung Kontur |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/250 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/450 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/450 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/650 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/650 |
max. 1000µm |
60mm |
min. 0,1nm |
0,02µm |
+/-(0,8+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
SURFCOM NEX 100
X/C |
Messbereich Z für Rauheit und Kontur |
Auflösung Rauheit und Kontur |
Auflösung nur Kontur |
Messabweichung Z |
Geradheit X |
100/250 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/250 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/450 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/450 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
100/650 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |
200/650 |
5mm |
min. 0,1nm |
0,1µm |
+/-(1,0+[2H]/100)µm |
0,05+L/1000µm |