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Vernetzte Mikroskopie
ZEISS Mikroskopie für die Industrie

Vernetzte Mikroskopie

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Vernetzte Mikroskopie
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  • Zugeschnittene Lösungen für Ihren Fertigungsprozess:

    für eine vernetzte Mikroskopie.

    ZEISS bietet spezialisierte industrielle Mikroskopielösungen ​für Anwender in allen Abteilungen:​

    • Forschung und Entwicklung
    • Material- und Qualitätslabors
    • Wareneingangsprüfung
    • Messraum und Fertigung
    • Alle ZEISS Mikroskopsysteme bieten unbegrenzte Konnektivität über Abteilungsgrenzen und Standorte hinweg.

  • ZEISS bietet ein einzigartig umfassendes Portfolio

    an Mikroskopie-Technologien für die Industrie:
    • Licht- und Digitalmikroskope
    • Elektronenmikroskope
    • Röntgenmikroskope

    Darüber hinaus ermöglicht es die einheitliche ZEN core Software den Anwendern, ihre Mikroskope voll auszunutzen, mit leistungsstarken Funktionen wie automatisierte Workflows und hardwareunabhängige Analysen.

  • Von Bildanalyse zur Produktivität.

    Datenverarbeitung ohne Schranken.

    Dies ermöglicht einen benutzerunabhängigen Betrieb, Trendanalysen und tiefere Einblicke durch die Kombination von Ergebnissen über Größendimensionen oder Modalitäten und die gemeinsame Nutzung von Daten. Das Ergebnis: Mehr Produktivität und höhere Sicherheit bei industriellen Mikroskopieanwendungen.

    • Gut-/schlecht-Bewertung bei visueller Inspektion
    • Mängel und Fehler sowie ihre Ursachen identifizieren
    • Rauheit und Topographie charakterisieren
    • Partikelkontamination nachverfolgen
    • Abweichungen bei kritischen geometrischen Abmessungen erkennen

  • Intelligente Datenverarbeitung

    für eine vernetzte Mikroskopie.

    Die einheitliche Benutzeroberfläche von ZEN core ermöglicht es Anwendern, Mikroskope auf die stets gleiche Weise zu bedienen, von Stereomikroskopen bis hin zu vollautomatisierten High-End-Anwendungen. Die leistungsstarke Software ermöglicht die Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie in multimodalen Arbeitsabläufen und bietet Konnektivität zwischen Systemen, Abteilungen und Standorten.

    ZEN core beherrscht mehr als nur die Bildgebung in der Mikroskopie. Es ist die umfassendste Suite von Bildgebungs-, Segmentierungs-, Analyse- und Datenverbindungswerkzeugen für die multimodale Mikroskopie in vernetzten Qualitätslaboren.

Mikroskopie für die Industrie: Applikationen und Portfolio

Kategorie auswählen Mikroskope für die Industrie
Mikroskope für die Industrie
Applikationen für die Industrie
LICHT- UND DIGITALMIKROSKOPE

Licht- und Digitalmikroskope

Finden Sie hier das Portfolio der Licht- und Digitalmikroskopie für die Industrie
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ELEKTRONENMIKROSKOPE

Elektronenmikroskope

Finden Sie hier das Portfolio der Elektronenmikroskopie für die Industrie
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RÖNTGENMIKROSKOPE

Röntgenmikroskope

Finden Sie hier das Portfolio der Röntgenmikroskopie für die Industrie
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ZEISS Lösungen für die Technische Sauberkeit

ZEISS Lösungen für die Technische Sauberkeit

Ursachen identifizieren. Schneller richtige Entscheidungen treffen.
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ZEISS Lösungen für die Materialographie.

Materialien werden komplexer. Analysieren wird einfacher.
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ZEISS Lösungen für Oberfläche und Rauheit.

Oberflächen in der Tiefe verstehen.
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ZEISS Löungen für die optische Inspektion.

Optische Inspektion und Dokumentation
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Optisches Messen mit der ZEISS O-INSPECT duo

Große und kleine Teile automatisch prüfen? Funktioniert.
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Mikroskopie-Lösungen für die Industrie

    • Kombinierte ZEISS Mikroskopie für Qualitätssicherung in der Stahlbranche

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      Wie man Beschichtungen zehnmal schneller mit einem Lichtmikroskop prüft? Der Medizintechnikkonzern Smith+Nephew nutzt seit Sommer 2022 ZEISS Axio Imager.Z2m. Und ist gleich aus mehreren Gründen von der KI-gestützten Lösung begeistert.
      KI beschleunigt Messprozess

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      Zwei Drittel aller E-Antriebsstränge entstehen mit Fertigungstechnik des süddeutschen Familienunternehmens GROB. Seine rigorosen Qualitätsansprüche stellt GROB mit Qualitätslösungen von ZEISS sicher.
      Qualitätssicherung beim Vorreiter für E-Mobilität

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      Erfahren Sie in unserer Success Story, warum ein österreichischer Hersteller von Großmotoren schon vor zehn Jahren Standards für die Technische Sauberkeit einführte. Und warum das Rasterelektronenmikroskop ZEISS EVO dabei eine Schlüsselrolle spielt.
      Die Nadel im Heuhaufen finden

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      Die SPC Werkstofflabor GmbH unterstützt die Stahlbranche dabei, die Qualität auch unter den derzeit schwierigen Umständen sicherzustellen. Dabei setzt das akkreditierte Prüflabor auf eine Kombination von Licht- und Rasterelektronen-Mikroskopie von ZEISS.
      Kombinierte ZEISS Mikroskopie für Qualitätssicherung in der Stahlbranche

    • Die Zukunft ist bei ZEISS schon heute

    • Schnelle 3D Schadensanalyse. Korrelative Workflow-Lösung von ZEISS

    • Skalierungsübergreifende Materialuntersuchung

    • Lokalisierung und Navigation am SEM leicht gemacht: ZEISS ZEN Connect

    • Reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät. Mit der ZEISS ZEN core Software

    • Vernetzte Mikroskopie für die Industrie

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      Erfahren sie mehr über das einzigartige ZEISS Mikroskopie Portfolio. Mikroskopie kann viel mehr als nur kleine Dinge sichtbar machen. Lernen Sie die weite Welt der Mikroskopie und die verschiedenen Anwendungsgebiete kennen, auch und gerade für die Industrie.
      Die Zukunft ist bei ZEISS schon heute

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      Sehen Sie sich das Video über unsere korrelative Workflow-Lösung an! Erfahren Sie, wie einfach es ist, Ihre Daten mit ZEISS Solutions technologieübergreifend zu nutzen und wie Sie zuverlässige und effiziente Ergebnisse erzielen.
      Schnelle 3D Schadensanalyse. Korrelative Workflow-Lösung von ZEISS

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      Wie sehen Ihre makroskopischen Strukturen aus? Wie finden Sie die Bereiche, die Sie interessieren, in einer großen Probe? Wie greifen Sie auf diese "Region of Interests" (ROI) zu? Und wie analysieren Sie diese weiter?
      Skalierungsübergreifende Materialuntersuchung

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      Organisieren, visualisieren und setzen Sie verschiedene Mikroskopiebilder und -daten derselben Probe in ihren Kontext zueinander, alles an einem Ort. Die Korrelation zwischen Bildern in verschiedenen Maßstäben kann im Arbeitsbereich überlagert und zur einfachen Navigation verwendet werden.
      Lokalisierung und Navigation am SEM leicht gemacht: ZEISS ZEN Connect

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      ZEISS ZEN core Software - reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät – die Bildanalyse ist somit unabhängig vom Mikroskop. Erfahren Sie im Video mehr.
      Reduzieren Sie Ihre Arbeitszeit am Gerät. Mit der ZEISS ZEN core Software

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      Die Software ZEISS ZEN core bietet eine workflow-orientierte Bedienung von ZEISS Mikroskopen, maschinelles Lernen und KI-basierte Bildanalyse für ein breites Anwendungsspektrum sowie nahtlose Konnektivität über das gesamte Mikroskopie-Portfolio hinweg.
      Vernetzte Mikroskopie für die Industrie

    • Intelligenter. Zeitsparender. ZEISS ZEN Intellesis.

    • Sichere und nachvollziehbare Mikroskopie-Abläufe mit dem ZEISS GxP-Modul

    • Metallografie und Materialprüfung mit den ZEISS ZEN core Materialmodulen.

    • Gesicherte Qualität in der Stahlproduktion: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)

    • ZEISS ZEN Connect: Mikroskopie-Bilder und Analysedaten im Gesamtkontext

    • ZEISS ZEN Data Storage: Zentrale Datenverwaltung in vernetzten Laborumgebungen

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      Durch den Einsatz bewährter maschineller Lernverfahren wie Pixelklassifizierung oder Deep Learning ermöglicht ZEISS ZEN Intellesis auch Nicht-Fachleuten, robuste und reproduzierbare Segmentierungsergebnisse. Laden Sie einfach Ihr Bild, definieren Sie Ihre Klassen, beschriften Sie die Pixel, trainieren Sie Ihr Modell und führen Segmentierung.
      Intelligenter. Zeitsparender. ZEISS ZEN Intellesis.

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      Mit dem GxP-Modul in ZEN core machen Sie Ihre Workflows entlang einer integrierten Hard- und Software-Lösung nachvollziehbar, um Regulierungs- und Zertifizierungsvorschriften zu entsprechen.
      Sichere und nachvollziehbare Mikroskopie-Abläufe mit dem ZEISS GxP-Modul

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      Wie können Sie Ihre metallografischen Untersuchungen beschleunigen? Wie gehen Sie mit neuen Materialien um? Wie vermeiden Sie verfälschte Ergebnisse? Wie sichern Sie Produktivität im Labor? Statt nur Funktionen zu erwerben, erhalten Sie mit ZEN core ein echtes Produktivitätspaket und heben Ihre Materialuntersuchungen auf die nächste Stufe
      Metallografie und Materialprüfung mit den ZEISS ZEN core Materialmodulen.

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      Stahl ist einer der am meisten genutzten Werkstoffe weltweit. Trotz ihrer geringen Größe können nichtmetallische Einschlüsse die mechanischen Eigenschaften sowie das Verarbeitungs- und Korrosionsverhalten des Stahls beeinträchtigen. ZEN Non-Metallic Inclusions ist Ihre Lösung für die schnelle und zuverlässige NMI-Analyse.
      Gesicherte Qualität in der Stahlproduktion: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)

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      Mit ZEN Connect visualisieren Sie verschiedene Mikroskopie-Aufnahmen und Daten einer Probe – in ihrem Kontext an einem gemeinsamen Ort. Entdecken Sie die Zusammenhänge zwischen Bilddaten verschiedener Maßstäbe. Profitieren Sie zudem von einer integrierten Berichtserstellung über die verbundenen Datensätze.
      ZEISS ZEN Connect: Mikroskopie-Bilder und Analysedaten im Gesamtkontext

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      ZEN Data Storage ermöglicht die zentrale Verwaltung von Gerätevoreinstellungen, Workflows, Bilddaten und Berichten verschiedener Systeme und Laborstandorte. Trennen Sie die mikroskopische Bilderfassung von nachgelagerten Analyseaufgaben, um die Arbeit im Labor noch effizienter zu gestalten.
      ZEISS ZEN Data Storage: Zentrale Datenverwaltung in vernetzten Laborumgebungen

Mikroskopie-Anwendungen für die Qualitätssicherung:

Kundenbeispiele aus der Industrie für die Industrie

Einfacher geht’s nicht.

KI-gestützte ZEISS Lösung prüft Implantat-Beschichtungen automatisiert.

Vorreiter für E-Mobilität.

E-Antrieb: GROB und ZEISS machen Fertigung effizient und fehlerfrei.

Unverzichtbar: Technische Sauberkeit

INNIO Group analysiert mit ZEISS Lösung chemische Zusammensetzung von Restschmutzpartikeln.

Kombinierte ZEISS Mikroskopie für Werkstoffprüfung

Die Kombination von Licht- und Rasterelektronenmikroskopie von ZEISS überzeugt.

Downloads

    • Vorschaubild von Battery Material Microstructure Analysis by SEM & EDS

      Battery Material Microstructure Analysis by SEM & EDS

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    • Vorschaubild von ZEISS Industrial Microscopy Series Brochure, DE

      ZEISS Industrial Microscopy Series Brochure, DE

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    • Vorschaubild von ZEN core product information brochure DE PDF

      ZEN core product information brochure DE PDF

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    • Vorschaubild von Fachartikel vernetzte Mikroscopie, DE

      Fachartikel vernetzte Mikroscopie, DE

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    • Vorschaubild von IMS Technical Paper Automated microscopy solutions DE PDF

      IMS Technical Paper Automated microscopy solutions DE PDF

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    • Vorschaubild von ZEISS IQS Technical Paper, FIB/SEM, Failure analysis, EN, PDF

      ZEISS IQS Technical Paper, FIB/SEM, Failure analysis, EN, PDF

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    • Vorschaubild von ZEISS IQS Kundenstory GROB Mic NEV DE PDF

      ZEISS IQS Kundenstory GROB Mic NEV DE PDF

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    • Vorschaubild von ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF

      ZEISS IMS Kunden Story INNIO Group Mik TCA DE PDF

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    • Vorschaubild von ZEISS IMS Kundenstory SPC Metallographie DE Flyer

      ZEISS IMS Kundenstory SPC Metallographie DE Flyer

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