ZEISS Mikroskopie Online Demo-Tag - Vorträge

Aufzeichnung: Vernetzte Mikroskopie & Rasterelektronenmikroskop - Entscheidungen beschleunigen

Vernetzte Mikroskopie & Rasterelektronenmikroskop - Entscheidungen beschleunigen

ZEISS Industrial Microscopy Series | Roger Landolt, Tim Schubert, Sebastian Rhode, Martin Kuttge & Konstantin Schade

Intelligente Datenverarbeitung für eine vernetzte Mikroskopie: Workflow inklusive Rasterelektronenmikroskop

Durch Industrielle Mikroskopie unterstützt ZEISS seine Kunden dabei, Mikroskopiedaten in Mehrbenutzerumgebungen, abteilungsübergreifend und über verschiedene Mikroskopiesysteme hinweg konsistent zu erzeugen, zu verwalten und zu nutzen. Ein gesamter Workflow inklusive Rasterelektronenmikroskop wird gezeigt.

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Vernetzte Mikroskopie & Rasterelektronenmikroskop - Entscheidungen beschleunigen

ZEISS Industrial Microscopy Series | Roger Landolt, Tim Schubert, Sebastian Rhode, Martin Kuttge & Konstantin Schade

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