ZEISS auf der DPG 2015

Mikroskopieveranstaltungen

ZEISS auf der Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG)

16. - 19. März - Berlin

Besuchen Sie unseren ZEISS-Stand (#6) auf der DPG 2015 und diskutieren Sie mit Experten die neuesten Arbeitsergebnisse auf dem Gebiet der Materialwissenschaften.
Überzeugen Sie sich von den intelligenten ZEISS Prüftechniken in der Materialbearbeitung.

Save the Date!

Besuchen Sie unsere ZEISS Vorträge auf der DPG.

  • Vorträge
    Montag | 16. März 2015
    10:00 - 10:15           
    Model-based thin film characterization by confocal and total interference contrast microscopy Matthias Vaupel H 0111
    16:00 - 16:15
    Illuminating Correlative Research using X-ray and Electron Microscopy Lars-Oliver Kautschor H 106
    16:00 - 16:15
    A Mirror-Corrected Scanning Electron Microscope Peter Gnauck EMH 225
    Donnerstag | 19. März 2015
    11:30 - 11:45 Field induced enhancement of refractive index and conductivity - a substrate effect in graphene Matthias Vaupel H 0111
  • ZEISS Produkte
    laser-shots: Vermessung der Abstände
    Smartzoom 5
    • präzise
    • hoher Durchsatz
    • protokollierbare Inspektionsjobs
    • workflow-orientierte Benutzeroberfläche
    • entspanntes Arbeiten