Allgemein | Elektronenmikroskopische Untersuchungsmethoden sind heute in Wissenschaft und Medizin sowie in der Industrie nicht mehr wegzudenken und haben ein sehr weites Anwendungsfeld. In der Rasterelektronenmikroskopie (REM) wird die Auflösungsgrenze des Lichtmikroskops weit unterboten. Immer leistungsfähigere Geräte und ein wachsendes Verständnis der erhaltenen Bilder bzw. Spektren erlauben zwei- oder sogar dreidimensionale Analysen bis hin zu Nano-Dimensionen. Ein modernes Rasterelektronenmikroskop erlaubt heute sowohl die Bestimmung des strukturellen Aufbaus als auch die Identifizierung der lokalen chemischen Zusammensetzung einer Probe. Dieser Kurs vermittelt Ihnen theoretische Grundlagen und beinhaltet eine kurze praktische Vorstellung eines REM. |
Inhalte | - Unterscheidung zwischen Licht- und Elektronenmikroskopie - Rasterelektronenmikroskopie (REM) - REM Bildgebung - Analytische Verfahren mittels verschiedener Detektoren (z.B. EDX) - Präparationsmethoden - Weiterführende mikroskopische Methoden: FIB-SEM Technologie und Helium-Ionenmikroskopie |
Voraussetzungen | Keine |
Datum | September 28, 2016 |
Dauer | 1 Tag 9:00 Uhr – Ende: ca. 16:30 Uhr |
Teilnehmer | max. 12 |
Sprache | Deutsch |
Kursgebühr | 350,- € zzgl. MwSt. Für Studenten ist die Teilnahme gegen Vorlage eines gültigen Studentenausweises kostenfrei. Inklusive: Kursunterlagen, Arbeitsmaterial, Mittagessen |
Veranstaltungsort | Reutlingen |