Empfohlene Röntgenmikroskopprodukte für Materialforschung und Industrie

Röntgenmikroskopie

Xradia Versa: Erweitern Sie die Grenzen der Wissenschaft

Gewinnen Sie die maximalen Informationen aus Ihrer Probe und führen Sie 4D- und In situ-Messungen durch – entweder mit Röntgenmikroskopie (XRM) allein oder in Verbindung mit anderen korrelativen Elektronen- und Lichtmikroskopietechniken des zerstörungsfreien, hoch auflösenden 3D-Imaging der XRM. Xradia Versa-Lösungen ermöglichen durch zerstörungsfreie Abbildungen und quantitative 3D-Analysen bahnbrechende Forschung in den Bereichen Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und anderen wichtigen Forschungsbereichen. Die Röntgenmikroskopie ist Ihre Imaging-Methode, die die Effektivität traditioneller Techniken ergänzt und verstärkt. In der Materialwissenschaft verwenden Sie Xradia Versa für die mikrostrukturelle 4D-Entwicklung, für Fehleranalysen, zur Untersuchung der Iteration zwischen physikalischen Experimenten und Berechnungsmodellen und zum Studium von in Betrieb befindlichen Geräten etc.

Flexibel. Integriert. Zerstörungsfrei.

  • Zerstörungsfreies Röntgen-Imaging für 3D-Untersuchungen und Innenraumstudien wertvoller Proben.
  • Branchenführende räumliche Auflösung von 700 nm mit verfügbaren Voxel-Größen unter 100 nm. Die Auflösung mit Abstand für eine breite Palette von Probenabmessungen erlaubt eine einmalig hohe Auflösung und einen starken Bildkontrast selbst bei größeren Proben und Innenaufnahmen.
  • Unerreichter Kontrast bei interessierenden Phasen oder Merkmalen für schwer zu erkennende Materialien.
  • Die zerstörungsfreie Natur von XRM ermöglicht 4D- und In situ-Aufnahmen.


Die ZEISS Architektur ermöglicht höchste Kontraste und Auflösungen bei der Durchführung solcher Studien.

Entwickelt für Ihre Anwendungen

Zerstörungsfreie Abbildung von Rissausbreitung und Bruchmechanik auf einer Vielzahl von Materialien von Metallen bis hin zu Keramik.

  • Baustoff-Imaging im Submikronbereich für bessere Ergebnisse und für einen besseren Schutz vor Naturkatastrophen.
  • Charakterisierung von Mikrostrukturen mit thermischen und mechanischen Studien zur Visualisierung und Quantifizierung der Auswirkungen von Spannung, Druck und Temperatur auf die Permeabilität auch in korrosiven Umgebungen.
  • Mehrlängen-Imaging zur Darstellung von Hohlräumen, Rissen und anderen Fehlermechanismen leichter Kohlefasern, die als strukturelle Verstärkungen, in Flugzeugflügeln und als elektrische Leiter verwendet werden.
  • Segmentierung von Materialien mit einmaligen Kontrastmechanismen. Das Verständnis volumetrischer Veränderungen wie Festkörperverformung, Porenbildung und Rissausbreitung ist eine Voraussetzung für das Verständnis der Formung, Verformung und Leistung von Materialien.

 

Xradia Ultra: Imaging mit Synchrotron-Qualität in einem Laborsystem

Zerstörungsfreies Imaging mit Röntgenstrahlen liefert detaillierte volumetrische 3D-Daten von internen Strukturen. Da in der Region of Interest nichts geschnitten oder getrennt werden muss, kann ein und dieselbe Probe wiederholt abgebildet werden. Xradia Ultra ist der einzige Labor-Scanner mit räumlicher Auflösung im Bereich unter 50 nm für die 3D-Visualisierung mikroskopischer Probenvolumina. Dieses XRM, das eine High-Flux-Laborröntgenquelle mit einer speziellen Röntgenoptik vereint, schließt die Lücke zwischen bestehenden hochauflösenden Imaging-Modalitäten wie FIB-SEM, TEM oder AFM und optischer Mikroskopie oder konventioneller microCT.

Einfacher. Intelligenter. Integrierter.

  • Mit einer Auflösung unter 50 nm ist Xradia Ultra von ZEISS das höchstauflösende 3D-Röntgenmikroskop der Welt, das auf zerstörungsfreie Weise Einblicke in innere Strukturen im Nanomaßstab liefert.
  • Hohe räumliche Auflösung und Modi für große Sehfelder
  • Das integrierte Zernike Phasenkontrast-Imaging verbessert die Sichtbarkeit aller Ränder und Schnittstellen bei niedrigem Absorptionskontrast.
  • Effiziente, hochauflösende Analysen in einem korrelativen Workflow dienen als Landkarte für das gezielte Ansteuern spezifischer Regionen einer Probe. So können verborgene interessierende Strukturen in FIB/SEM effizienter gefunden und die Risiken der Zerstörung des Merkmals oder der Aufwendung von übermäßiger Abtragungszeit für die Suche minimiert werden.

 

Entwickelt für Ihre Anwendungen

  • Charakterisierung von Verbundwerkstoffen und anderen Funktionsmaterialien, um Eigenschaften wie Porosität, Risse und Phasenverteilung zu verstehen.
  • Hochauflösende Detektion von Merkmalen und Rissausbreitung ohne Beschädigung der Proben für weitere Untersuchungen.
  • Schnelle, großvolumige Mehrphasen-Messung von Energiematerialien einschließlich Porosität, elektrischer Leitungsfähigkeit und anderer kritischer Faktoren.
  • Hohe räumliche Auflösung und Modi für große Sehfelder ermöglichen zerstörungsfreie Mikrostrukturmessungen bei verschiedenen Längenskalen.
  • Zerstörungsfreies Imaging von in Betrieb befindlichen Batterien, Brennstoffzellen und anderen Energiespeichern erlaubt direkte Abbildungen und Messungen der Elektrodeneigenschaften während des Betriebs.

Empfohlene Produkte für die Röntgenmikroskopie

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