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ZEISS LSM 800
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ZEISS LSM 800 für Materialuntersuchungen

Ihr vielseitiges Konfokalmikroskop für Forschung und Fehleranalyse

Einführung

ZEISS LSM 800, das konfokale Laser Scanning Mikroskop von ZEISS (CLSM), ist das ideale Instrument für Ihre Materialuntersuchungen. Charakterisieren Sie 3D Oberflächen in Ihrem Labor oder in Ihrer Multi-User-Einrichtung. LSM 800 ermöglicht Ihnen präzises, dreidimensionales Imaging und die Analyse von Nanomaterialien, Metallen, Polymeren und Halbleitern. Erweitern Sie Ihr aufrechtes Lichtmikroskop, ZEISS Axio Imager.Z2m, mit einem konfokalen Scanning Modul. Kombinieren Sie alle für die Materialanalyse wesentlichen, lichtmikroskopischen Kontrastarten mit Topographie in hoher Präzision. Richten Sie einfach und schnell den Ablauf Ihrer Experimente ein. So sparen Sie Zeit, da Sie Aufnahme und Analyse an einem einzigen Mikroskop durchführen können. Und geführte Workflows erleichtern Ihnen das Durchführen der Bilderfassung. Profitieren Sie von der offenen Architektur der Software und analysieren Sie so Ihre Proben mit Ihren eigenen Makros.

Highlights

Fehleranalyse, Verschleißmessung auf dem Display eines Mobiltelefons

Kombinieren Sie Lichtmikroskopisches und Konfokales Imaging

LSM 800, Ihre konfokale High-End Plattform, ist auf anspruchsvolle Anforderungen in den Materialwissenschaften zugeschnitten, sowohl in 2D als auch in 3D. Nutzen Sie die Vielfalt der Kontrastmethoden in Ihrem aufrechten Lichtmikroskop.

  • Charakterisieren Sie 3D Strukturen mit Fluoreszenz, entweder im lichtmikroskopischen oder im konfokalen Modus.
  • Bilden Sie anisotropisches Material mit Polarisationskontrast ab.
  • Identifizieren Sie ROIs (Regions of Interests) mit zirkulärem Differenziellem Interferenz Kontrast (C-DIC) und untersuchen Sie die Topographie im konfokalen Modus.
LSM 800 Bildaufnahem-Wizard

Einfaches Imaging mit geführten Workflows

Reduzieren Sie Ihre Set-up Zeit und beschleunigen Sie Ihre Arbeitsabläufe, da Sie mit dem LSM 800 nur ein einziges Mikroskop sowohl für die Bildaufnahme als auch für Topographieanalysen verwenden.

  • Definieren Sie Ihre Probenfläche in 2D und bilden Sie nur exakt die Region of Interest (ROI) ab, die Sie wirklich für Ihre Analysen benötigen.
  • Sie haben volle Flexibilität in Größe und Orientierung des ROI. 
  • Ein optimiertes User Interface unterstützt Sie mit geführten Workflows. 
LSM 800

Erweitern Sie Ihre Imaging Möglichkeiten

Eine konfokales Laser Scanning Modul erweitert die Möglichkeiten Ihres Widefield Lichtmikroskops.

  • Bauen Sie Ihren Axio Imager.Z2m mit LSM 800 aus und nutzen Sie die vielfältige Hardware, z.B. bei Objektiven, Tischen und Beleuchtung.
  • Definieren Sie Ihre Applikations-Welt mit Hilfe von Open Application Development (OAD). Tauschen Sie Daten mit externen Programmen wie MATLAB aus.
  • Erweitern Sie Ihr Konfokales Mikroskop mit Shuttle & Find für korrelative Mikroskopie. Führen Sie einfach und schnell Workflows von einem Licht- zu einem Elektronenmikroskop aus – und vice versa. Kombinieren Sie effektiv Imaging und analytische Methoden. Erhalten Sie reproduzierbar Informationen in der Materialforschung.

Das Konfokale Prinzip

Das Konfokale Prinzip

Schema des konfokalen Prinzips

Untersuchen Sie Ihre Proben in 3D

LSM 800 ist ein konfokales Laser Scanning Mikroskop, das Laserlicht in einem konfokalen Strahlengang nutzt, um definierte optische Schnitte Ihrer Probe zu erzeugen und diese in einem 3D Bildstapel darzustellen. Die Blende oder Pinhole detektiert nur die innerhalb der Fokus-Ebene liegende Information. Die außerhalb des Fokus liegende Information wird dagegen blockiert und nicht abgebildet.

  • Ein Bild wird durch Rastern in x,y-Richtung erzeugt. Im Fokus befindliche Information erscheint hell während außerhalb liegende Information dunkel aussieht.
  • Die Probe wird durch Veränderung der Entfernung zwischen Probe und Objektiv in optische Schnitte zerlegt und es wird ein Bildstapel erzeugt.
  • Die Höhe des Objekts wird durch die Analyse der Intensitätsverteilung eines einzelnen Pixels über den gesamten Bildstapel hinweg berechnet. Die Höheninformation über das gesamte Bildfeld werden in einer Höhenkarte zusammengesetzt.

Zugeschnitten auf Ihre Auflicht-Mikroskopie – C Epiplan-APOCHROMAT Objektive

Strehl-Faktor

Beurteilen Sie die optische Qualität Ihres C Epiplan-APOCHROMAT Objektivs mit Hilfe des Strehl-Faktors

Nutzen Sie die plan-apochromatisch korrigierten C Epiplan-APOCHROMAT Objektive für Auflicht-Applikationen.

  • Profitieren Sie vom verstärkten Kontrast und der hohen Transmission im sichtbaren Spektralbereich.
  • Erzielen Sie optimale Resultate in der konventionellen Widefield Lichtmikroskopie, bei differenziellem Interferenz Kontrast (DIC) and Fluoreszenz.
  • C Epiplan-APOCHROMAT Objektive sind speziell für die Konfokalmikroskopie designt, da sie bei 405 nm minimale Aberrationen über das gesamte Bildfeld erzielen. Sie erhalten mehr Details von Ihrer Probenoberfläche, da präzise Topographie-Daten mit weniger Rauschen und weniger Artefakten erzeugt werden.

OAD: Ihre Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

OAD: Ihre Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

Ihre Schnittstelle zur ZEN Imaging Software

ZEISS LSM 800 ist mit der neuesten Version der ZEN Imaging Software ausgestattet, die mit dem Modul Open Application Development (OAD) eine Schnittstelle für den Datenaustausch beinhaltet.

  • Passen Sie Ihre Workflows individuell auf Ihre Applikationen an und automatisieren Sie sie.
  • Tauschen Sie Daten mit etablierten Analyse-Softwares, wie MATLAB, aus, wenn Sie eine erweiterte Funktionalität der ZEN-Software benötigen.
  • Schaffen Sie Ihre eigene Makro-Lösung. Genießen Sie die Vorteile des einfachen Zugangs zu wesentlichen ZEN Funktionen und darüber hinaus die Fähigkeit, Bibliotheken zu integrieren, z.B. aus dem the.Net Framework.

Untersuchen Sie Oberflächen in 3D mit ConfoMap

Untersuchen Sie Oberflächen in 3D mit ConfoMap

ConfoMap ist die ideale Option um 3D Oberflächen zu visualisieren und zu prüfen.

  • Evaluieren Sie Qualität und funktionale Leistungsfähigkeit Ihrer Oberflächen im Rahmen neuesten Metrologie-Messstandards, z.B. ISO 25178.
  • Beziehen Sie umfassende geometrische, funktionale und Rauheitsstudien mit ein und erzeugen Sie detaillierte Oberflächenanalyseberichte.
  • Fügen Sie optionale Module für die erweiterte Analyse der Oberflächentextur, Konturanalyse, Korngrößen und Partikelanalyse, 3D Fourier Analyse, Analyse der Oberflächenbildung und Statistik.

Downloads

ZEISS LSM 800

Your Versatile Confocal Microscope for Research and Failure Analysis

Seiten: 20
Dateigröße: 6.561 kB

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research

Seiten: 22
Dateigröße: 12.439 kB

White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

Seiten: 6
Dateigröße: 1.755 kB

Application Note

Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

Seiten: 5
Dateigröße: 1.245 kB

Application Note:

Microscopy in Metal Failure Investigations

Seiten: 8
Dateigröße: 4.316 kB

Hotfixes & Servicepacks