FIB-SEM
Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomaßstab.
Die Crossbeam-Produktfamilie
Ihr FIB-SEM von ZEISS für Nanotomografie und Nanofabrikation Mit Crossbeam verbinden Sie die Imaging-und Analyseleistung der Gemini-Säule mit den Fähigkeiten eines FIB der nächsten Generation. Beschleunigen Sie Ihre Tomografieabläufe mit einer FIB-Stromstärke von 100 nA.