A Publication Reference List
Um alle Details Ihrer Probe erfassen zu können, müssen Sie sie häufig mithilfe mehrerer Methoden analysieren. Wenn Sie vom Mikro- zum Nanobereich wechseln, kann es erforderlich sein, dass Sie ein Lichtmikroskop mit einem Elektronenmikroskop (CLEM) oder ein Röntgenmikroskop mit einem FIB-REM (CXF) korrelieren. Die korrelative Mikroskopie von ZEISS bietet Ihnen integrierte Lösungen und nahtlose Workflows. Entscheiden Sie sich für ZEISS als einzigen Anbieter von Licht-, Elektronen-, Ionen- und Röntgenmikroskopen und profitieren Sie von jahrelanger Erfahrung auf dem Gebiet korrelativer Analysen. Mit der einzigartigen, probenorientierten Korrelation von Bildern und Daten profitieren Sie bei Ihrer Arbeit von mehr als einer Mikroskopietechnik.
Sind Sie auf der Suche nach einer Möglichkeit, bildgebende und analytische Methoden von Licht- und Elektronenmikroskopie zu verbinden? Möchten Sie funktionelle und dynamische Informationen über Ihre Proben mit ultrastrukturellen Details verbinden? Mit Shuttle & Find für Life Sciences präsentiert ZEISS die erste Lösung, die genau das bietet: einen bedienungsfreundlichen, hoch produktiven Workflow vom Licht zum Elektronenmikroskop und umgekehrt.
Shuttle & Find für die Materialanalyse ist eine korrelative Schnittstelle zwischen Licht- und Elektronenmikroskopen. Sie verfügen nun über eine einfache Möglichkeit, die Vorteile von ZEISS Lichtmikroskopen mit den umfangreichen Funktionalitäten unserer führenden Rasterelektronenmikroskope zu kombinieren.
Erwerben Sie neue Erkenntnisse durch die Verknüpfung von Informationen über mehrere Dimensionen. Nahtlose Datenhandhabung, vereinfachte Workflows und umfangreichere Einblicke in Ihre Proben.
Das Softwaremodul ZEN Correlative Array Tomography erlaubt es Ihnen automatisch Hunderte von Serienschnitten mit verschiedenen Auflösungen abzubilden und in einem einzigen korrelativen Volumendatensatz zusammenfassen.
Weitere Informationen zu ZEISS ZEN Correlative Array Tomography
Meistern Sie Ihre multi-dimensionale Herausforderung. Nutzen Sie die effiziente Navigation und Korrelation von Bildern aus jeder Quelle, z.B. aus Licht- oder Röntgenmikroskopie. Profitieren Sie von hohem Durchsatz und automatisierter Bildgebung für große Bildflächen.
Schnelle Partikelanalytik – fassen Sie die Ergebnisse der Analysen mit dem Licht- und Elektronenmikroskop zu einem Bericht zusammen.
A Publication Reference List
Seiten: 9
Dateigröße: 703 kB
Korrelativer Röntgenmikroskop-Lichtmikroskop-Workflow zur Charakterisierung prozessbedingter Fehler in additiv gefertigten Materialien
Seiten: 8
Dateigröße: 6.667 kB