Shuttle & Find

Shuttle & Find

Eine Brücke zwischen der Mikro- und Nano-Welt in der Materialanalyse

Shuttle & Find

  • Einführung

    Verbindung von Elektronen- und Lichtmikroskopie für die Materialanalyse

    Shuttle & Find von Carl Zeiss ist eine korrelative Mikroskopieschnittstelle für Licht- und Elektronenmikroskope, die speziell für die Verwendung in der Materialanalyse entwickelt wurde.
    Als kombinierte Hardware- und Software-Lösung ermöglicht sie es Ihnen, Ihre Probe in Minutenschnelle von einem Mikroskopsystem auf ein anderes zu übertragen — ein Prozess, der bisher Stunden, wenn nicht Tage, dauerte.

    Shuttle & Find ist ein extrem flexibles Zwei-Wege-System, das es Ihnen erlaubt, eine beliebige Zahl von Carl Zeiss-Systemen für die korrelative Mikroskopie zu kombinieren. Es unterstützt auch dazwischenliegende Vorbereitungsschritte und gewährleistet dadurch, dass Ihre Probe optimal für die Verwendung vorbereitet ist, wenn Sie von einem System zu dem anderen wechseln.

    Für die Materialanalyse ist wichtig, dass Shuttle & Find Ihren Workflow beschleunigt, indem es den Suchprozess nach derselben Region of Interest beschleunigt. Dadurch werden die Zykluszeiten verkürzt, und Sie können eine beträchtlich höhere Probenzahl in kürzerer Zeit bearbeiten.

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  • Highlights
    ELYRA – Produkt-Highlights
    • Schnelles Wiederauffinden von Regions of Interest:
      Erstellen Sie ein Bild in Ihrem Lichtmikroskop und markieren Sie die Regions of Interest (ROI). Die ROI werden gemeinsam mit dem Bild Ihrer Probe gespeichert. In Ihrem Elektronenmikroskop können Sie die ROI durch automatisierte Kalibrierung und Arbeitsroutinen problemlos neu laden und auffinden.
    • Nähere Informationen:
      Kombinieren Sie optische Kontrastierungstechniken und Informationen über Größe, Morphologie und Farbverstärkung Ihres Lichtmikroskops mit den analytischen Methoden Ihres Elektronenmikroskops. Entdecken Sie Informationen über Struktur und Funktion Ihrer Probe.
    • Alles aus einer Hand:
      Als weltweit einziger Hersteller von Licht- und Elektronenmikroskopen aller Leistungsklassen ist Carl Zeiss geeignet, Brücken zwischen der Mikro- und der Nanowelt zu schlagen. Carl Zeiss liefert Ihnen Lichtmikroskope, Elektronenmikroskope sowie die Kombination beider aus einer Hand.

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  • Korrelative Partikel Analytik

    Korrelative Partikel Analytik - Tiefere Einblicke, höhere Qualität.

    Charakterisieren Sie prozesskritische Partikel. Correlative Particle Analyzer kombiniert Ihre Daten von Licht- und Elektronenmikroskopen. Nachdem Sie mit Ihrem Lichtmikroskop Partikel detektiert haben, können Sie die Relokalisierung und EDX-Analyse anhand der korrelativen Partikel Analytik von Carl Zeiss voll automatisieren. Dies ist die beste Methode zur Verbesserung der Charakterisierung von Restpartikeln.

    Der Correlative Particle Analyzer liefert Ihnen automatisch einen Bericht, der Ihre Ergebnisse sowohl von der Licht- als auch von der Elektronenmikroskopanalyse integriert. Correlative Particle Analyzer erzielt Ergebnisse um bis zu zehn Mal schneller als dies mit der konsekutiven individuellen Analyse durch Licht- und Elektronenmikroskope möglich ist.

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  • Downloads
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    ZEISS Shuttle & Find

    Bridge the Micro and Nano World in Materials Inspection and Analysis

    Seiten: 12
    Dateigröße: 9024 kB

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    White Paper: Analysis and Quantification of Non-metallic Inclusions in Steel

    Shuttle & Find

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1951 kB

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    White Paper: Fast Structural and Compositional Analysis of Aged Li-Ion Batteries with "Shuttle & Find"

    Correlative Microscopy allows a high productivity in structural analysis of Li-ion batteries due to a fast, reliable and precise workflow between light microscopy and SEM.This enables new possibilities especially for quantitative image data analysis of the same region of interest.

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1177 kB

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    White Paper: Microstructural Investigation of Austempered Ductile Iron (ADI) with "Shuttle & Find"

    Interface for Correlative Microscopy in Materials Analysis

    Seiten: 5
    Dateigröße: 2766 kB

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    Application Note: Enhancing Material Inspection and Characterization Information and Data Integrity

    By Combining Light and Scanning Electron Microscopy in a Correlative Workflow

    Seiten: 8
    Dateigröße: 1456 kB

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    Application Note: Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

    Seiten: 5
    Dateigröße: 1244 kB

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    White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscopy

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1755 kB

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    Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

    Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend.

    Seiten: 41
    Dateigröße: 5601 kB