Mikroskop für Qualitätskontrolle und Prozesssteuerung

Axio Imager 2

Ihre motorische Mikroskop-Plattform für die Materialanalyse

Axio Imager 2

  • Einführung

    Ihr Mikroskopsystem für fortschrittliche Materialforschung

    Bringen Sie exzellenten Bedienungskomfort in Ihre Arbeitsabläufe. Axio Imager 2 garantiert zuverlässige und reproduzierbare Resultate bei Qualitätskontrolle und Prozesssteuerung.

    Axio Imager 2 steht für brillante Optik und homogene Ausleuchtung. Kontrastmanager und Lichtmanager garantieren jederzeit definierte Bedingungen und reproduzierbare Resultate. ACR erkennt und konfiguriert automatisch Objektive und Kontrastmodule für Axio Imager.Z2m.

    Von kodierten bis zu voll motorisierten Stativen stehen Ihnen vier Varianten zur Verfügung. Erweitern Sie Ihr Anwendungsspektrum mit Speziallösungen: Particle Analyzer, Korrelative Mikroskopie oder LSM 700.

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  • Highlights
    Axio Imager 2 – Highlights
    • Brillante Optik mit hervorragenden Kontrasten und exzellenter Auflösung
    • Modulares Stativkonzept mit einer Auswahl motorischer und kodierter Komponenten für höhere Flexibilität
    • Reproduzierbare Resultate dank standfestem Stativ und vibrationsfreien Arbeitsbedingungen
    • Rüsten Sie Axio Imager 2 mit dem konfokalen Laser Scanning Mikroskop LSM 700 auf
    • Nutzen Sie Axio Imager 2 für Ihre korrelativen Mikroskopie-Abläufe und die Partikelanalyse
    • Automatische Funktionen für präzise Reproduktion in der Qualitätskontrolle und Prozesssteuerung

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  • Kontraste
    Axio Imager 2 – Vielseitig im Einsatz

    Auswahl an Kontrastverfahren

    Schaffen Sie sich die Möglichkeiten zur Erforschung und Untersuchung verschiedenster Materialien. Analysieren Sie metallische Strukturen, Verbundwerkstoffe, Glas, Holz und Keramik. Untersuchen Sie Polymere und Flüssigkristalle.
     
    Wählen Sie aus einer breiten Palette von Kontrastverfahren, um zusätzliche Informationen zu gewinnen. Nutzen Sie Auflicht und betrachten Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, differenziellem Interferenzkontrast (DIC), zirkularem differenziellem Interferenzkontrast (C-DIC), Polarisation oder Fluoreszenz. Nutzen Sie Durchlicht und untersuchen Sie Ihre Proben in Hellfeld, Dunkelfeld, differentiellem Interferenzkontrast (DIC), Polarisation oder zirkularer Polarisation.
     
    Der Kontrastmanager gewährleistet reproduzierbare Beleuchtungs-
    einstellungen für Ihren Axio Imager 2.


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  • Ergonomie
    Axio Imager 2 – Das Wesentliche im Fokus

    So vielseitig wie Ihre Oberflächen

    Axio Imager.Z2m und Axio Imager.M2m fassen alle wichtigen Bedienfunktionen auf einem Touch Screen zusammen. Dort können Sie alle motorischen Komponenten per Fingerdruck kontrollieren.
     
    Weitere Bedienknöpfe sind ergonomisch um den Fokustrieb angeordnet und durch ihre taktilen Oberflächen leicht zu unterscheiden.

    Axio Imager.D2m besitzt fünf vorkonfigurierte Knöpfe, Axio Imager.Z2m zehn frei belegbare Bedienknöpfe.

     

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  • Thermomikroskopie

    Linkam Heiztisch – Flexible Dokumentation von Temperaturänderungen

    Sie möchten den Einfluss der Temperatur auf das Verhalten von Metallen, Kristallen, Keramik oder Kunststoffen untersuchen?

    Mit AxioVision und Linkam Heiztischen definieren Sie präzise den Verlauf von Heiz- oder Kühlexperimenten. Dokumentieren Sie temperaturabhängige Veränderungen in einer Zeitreihe. Das Resultat ist ein Protokoll der Temperatur- und Vakuumdaten in jedem Zeitreihenbild. Beobachten Sie im Rahmen der Qualitätskontrolle die Veränderung der Probe während des Heiz- oder Kühlprozesses. 

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  • Downloads

    ZEISS Axio Imager 2

    Ihr offenes Mikroskopsystem fur automatisierte Materialforschung

    Seiten: 23
    Dateigröße: 10.596 kB

    Mikroskop- und Messsysteme für Qualitätssicherung und -kontrolle

    Erfassen Sie das Wesen Ihres Bauteils: Schnell. Einfach. Übergreifend. >>> PDF für Darstellung am Monitor in geringer Auflösung. Bitte nehmen Sie Kontakt mit uns auf, um eine gedruckte Version zu bestellen.

    Seiten: 41
    Dateigröße: 5.601 kB

    White Paper: Hellfeld- und Polarisationslichtmikroskopie an Sintermagneten auf Fe-Nd-B-Basis

    mittels ZEISS Axio Imager.Z2m

    Seiten: 7
    Dateigröße: 2.818 kB

    Whitepaper Axio Imager für Materialanalyse

    Lichtmikroskopische Analyse der intrinsischen Eigenschaften hartmagnetischer Phasen aus der Domänenstruktur

    Seiten: 7
    Dateigröße: 2.863 kB

    White Paper: Optical Analysis of Shape and Roughness of a Gear Wheel

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1.193 kB

    Mikroskopieanwendungen in der additiven Fertigung

    Verwendung von ZEISS Licht- und Elektronenmikroskopsystemen

    Seiten: 7
    Dateigröße: 2.978 kB

    White Paper: Topography and Refractive Index Measurement

    of a Sub-μm Transparent Film on an Electronic Chip by Correlation of Scanning Electron and Confocal Microscop

    Seiten: 6
    Dateigröße: 1.755 kB

    Application Note

    Graphene Characterization by Correlation of Scanning Electron, Atomic Force and Interference Contrast Microscopy

    Seiten: 5
    Dateigröße: 1.245 kB

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