ZEISS ZAPHIRE offline evaluation

Mikroskopie und Messtechnik vereint

NEO pixel in the industrial quality lab, running on Smartzoom 5 digital microscope

Präzise Messungen im mikroskopischen Maßstab

Maschinen sind in heute der Lage, beeindruckende Bauteile mit winzigen Strukturen und kleinsten Toleranzgrenzen zu herzustellen. Um dabei die Qualität zu sichern, müssen Merkmale vermessen werden, die man mit dem bloßen Auge nicht mehr sehen kann.

Mit der Auswertefunktion ZEISS ZAPHIRE offline evaluation, welche direkt in der ZEISS ZAPHIRE Software integriert ist, bietet ZEISS optimierte Funktionen für den Import von Mikroskopie-Daten an und macht Messtechnik-Funktionen in der Mirkoskopie verfügbar - für bessere Qualität und höhere Produktivität.

Highlights der ZEISS ZAPHIRE offline evaluation Funktion

Mikroskopie-Aufnahmen automatisch, präzise und nutzerunabhängig vermessen

  • Anlegen von Prüfplänen, basierend auf automatischer Merkmalerkennung an Beispielproben
  • Automatisches Ausführen von vordefinierten Messungen
  • Vergleich der Messergebnisse mit CAD-Daten zum Erkennen von Abweichungen
  • Berichtserstellung mit ZEISS PiWeb
  • Datenexport für weitergehende Analysen
  • Bereitstellen von Prüfplänen und Messresultaten für andere Kollegen und Laborstandort
  • ZEISS ZAPHIRE offline evaluation mit allen ZEISS Mikroskopen nutzen

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ZEISS Zaphire

Produktreport ZEISS Smartzoom 5 mit ZEISS ZAPHIRE

Lesen Sie, wie ZEISS Mikroskope den Messraum erobern.

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Invisible - because not yet clearified, if it should be gated content

Produktreport ZEISS Smartzoom 5 mit ZEISS ZAPHIRE

Lesen Sie das vollständige Interview mit Dr. Robert Zarnetta, Leiter für industrielle Mikroskopielösungen bei ZEISS Industrial Quality Solutions, und erfahren Sie wie ZEISS Mikroskope den Messraum erobern.

Seiten: 5
Dateigröße: 210 kB

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