ZEISS ZEN core

Software-Suite für vernetzte Mikroskopie vom Materiallabor bis zur Produktion

ZEN core bietet mehr als nur Mikroskopie-Imaging. Die Software ist die umfangreichste Lösung für Bildgebung, Segmentierung, Analyse und Datenkonnektivität in der multimodalen Mikroskopie in vernetzten Materiallaboren.

Mehr als Highlights:

  • Einfache Konfiguration – einfache Bedienung. Nutzen Sie die Vorteile einer adaptiven Benutzeroberfläche.
  • Moderne Bildgebung und automatisierte Analyse. Profitieren Sie von vorkonfigurierten Aufnahmeroutinen und der Konsistenz reproduzierbarer Workflows.
  • Infrastrukturlösung für das vernetzte Labor. Halten Sie Ihre Daten über Instrumente, Labore und Standorte hinweg zusammen.

Highlights

Eine Schnittstelle für alle ZEISS Mikroskope in einer Mehrbenutzerumgebung

Eine Schnittstelle für alle ZEISS Mikroskope in einer Mehrbenutzerumgebung

Von Stereomikroskopen für Einsteiger bis hin zu vollautomatisierten Imaging-Systemen: ZEN core bietet eine einheitliche Benutzeroberfläche für alle ZEISS Mikroskope und Kameras. ZEN core ermöglicht das Korrelieren von Licht- und Elektronenmikroskopen in multimodalen Workflows und schafft eine Konnektivität zwischen Systemen, Laboren und Standorten.

  1. Mikroskop- und Kamerasteuerung
  2. Datenerfassung und -analyse
  3. Korrelative Mikroskopie
  4. Nachgelagerte Analysen
  5. Automatisierte Segmentierung
  6. Kontextuelle Analyse
  7. Integrierte Daten
  8. Mobiler Zugang
  9. Zentrale Datenverwaltung
  10. Konnektivität zwischen Systemen, Labors und Standorten
  11. Schnittstellen zur weiteren Analyse

Benutzerverwaltung im Dienste der Reproduzierbarkeit und Integrität von Daten

  • Erstellen Sie verschiedene Benutzerkonten mit je nach Anforderung festgelegten Berechtigungen und Rollen.
  • Erstellen und verwalten Sie Benutzer direkt in ZEN core – oder stellen Sie eine Verbindung zu ActiveDirectory her und verwenden Sie weiterhin die dortigen Benutzerkonten.
  • Verwalten Sie alle Benutzer effizient mithilfe von ZEN Data Storage als zentralem Hub für alle angeschlossenen Mikroskope.
  • Schützen Sie den Zugang mit Passwörtern und nutzen Sie die umfangreichen Möglichkeiten, Passwortregeln und Ablaufzeiten festzulegen.
Benutzerverwaltung im Dienste der Reproduzierbarkeit und Integrität von Daten

Automatisierte Segmentierung, kontextbezogene Analysen und Berichte

ZEN analyzer ist die Desktop-Version von ZEN core, speziell für Tätigkeiten, die unabhängig vom Mikroskop erfolgen. So wird das Instrument nicht durch nachgelagerte Arbeiten blockiert. Stattdessen können weitere Experimente damit durchgeführt werden – immer, überall und sehr effizient.

  • Die ideale Lösung für Segmentierung und Analyse, sowie zur Berichterstellung und Erstellung von Jobvorlagen.
  • Fernzugriff auf ZEN Data Storage.
  • Sie können alle in ZEN core verfügbaren Workbenches nutzen und haben so volle Kontrolle über alle Daten und Vorlagen, auf die Sie von Ihrem Schreibtisch aus zugreifen können.
Automatisierte Segmentierung, kontextbezogene Analysen und Berichte

Materialmodule für Metallografieanwendungen

Durch Materialmodule zur Bestimmung von Korngröße, Phasen und Schichtdicken sowie zur Klassifikation von Graphitpartikeln und zur Analyse nichtmetallischer Einschlüsse bietet ZEN core alle wichtigen metallografischen Anwendungen auf einer einheitlichen Benutzeroberfläche.


Analyse von Gusseisen

In Abhängigkeit von Prozessparametern und der chemischen Zusammensetzung des Materials können Graphitpartikel in Gusseisen in unterschiedlicher Form und Verteilung auftreten. Das wirkt sich auf die mechanischen Eigenschaften des Materials aus.

Analysieren Sie die Form und Größe von Graphitpartikeln – und das vollautomatisiert. Oder bestimmen Sie die Kugelzahl nach EN ISO 945-1:2008 + Cor.1:2010. Darüber hinaus lässt sich die Nodularität von Vermiculargraphit ermitteln und der Gehalt an Graphitpartikeln in Flächenprozent untersuchen.

Analyse von Gusseisen: Größe und Formverteilung
Analyse von Gusseisen: Größe und Formverteilung

Korngrößenanalyse

Korngröße und Verteilung stehen in direktem Zusammenhang mit den Materialeigenschaften. Quantifizieren Sie die kristallografische Struktur Ihrer Materialien gemäß internationaler Normen. Mit drei Auswertungsverfahren können Sie Ihre Proben charakterisieren:

  • Planimetrisches Verfahren zur automatischen Rekonstruktion von Korngrenzen
  • Intercept-Verfahren mit einer Vielzahl von verschiedenen Messgittern zum interaktiven Erkennen und Zählen von Korngrenzen-Schnittpunkten
  • Vergleichsverfahren für manuelle Bildauswertung mit Richtreihen
Korngrößenanalyse: Intercept-Verfahren
Korngrößenanalyse: Intercept-Verfahren

Phasenanalyse

Jeder Teil eines Materials, der über eine ausgeprägte Kristallstruktur verfügt, kann als „Phase“ betrachtet werden. Verschiedene Phasen sind durch deutliche Grenzen voneinander getrennt. Die Verteilung und Orientierung der Phasen beeinflussen Materialeigenschaften wie Härte, Festigkeit oder Bruchdehnung.
Analysieren Sie die Phasenverteilung in Ihren Proben. Größe, Form oder Orientierung können präzise und vollautomatisiert bestimmt werden. Verwenden Sie diese Verteilungsanalyse, um Informationen über die Porosität von additiv gefertigten Materialien zu erhalten.

Phasenanalyse: Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen
Phasenanalyse: Ergebnisansicht mit Verteilung der verschiedenen Phasen

Messung von Schichtdicken

Messen Sie die Dicke von Beschichtungen und Plattierungen oder die Tiefe von gehärteten Oberflächen im Querschnitt einer Probe.

Komplexe Schichtsysteme können wahlweise automatisch oder interaktiv bewertet werden. Das Modul berechnet den Verlauf der Messsehnen abhängig vom vorhandenen Gradienten.

Lassen Sie die Ergebnisse in einem übersichtlichen Bericht mit Bildern und Probendaten ausgeben oder als Messwerte wie Maximal- und Minimal-Sehnenlänge, Mittelwert und Standardabweichung.

Schichtdickenmessung: Automatische Erkennung einer Schicht
Schichtdickenmessung: Automatische Erkennung einer Schicht

Analyse nichtmetallischer Einschlüsse (NMI)

ZEN core unterstützt die Industrienormen für die metallografische Analyse von NMI. Der Benutzer wird von der Software schnell und unkompliziert durch die einzelnen Arbeitsschritte geführt. Sie erzeugt – den geltenden Normen entsprechend – neben einem Bericht auch eine Bildergalerie der Einschlüsse.

Nützliche Ansichten für Inspektionsaufgaben und die Funktionen zur automatischen Erkennung von Verformungsachsen machen die Analyse einfach, intuitiv und wiederholbar. Mit der zusätzlichen GxP-Funktion können ZEN core-Benutzer ihren Kunden vollständige Rückverfolgbarkeit und Datenintegrität bei NMI-Analysen bieten. Die Gütezertifizierung wird damit nachprüfbar, was insbesondere für Kunden in regulierten Branchen von Vorteil ist.

NMI: Globale Ergebnisansicht
NMI: Die globale Ergebnisansicht ermöglicht das Umschalten zwischen den Einschlusstypen: Oxide, Sulfide und Artefakte.

Richtreihen

Digitalisieren Sie Ihre Diagramme: Ihre Probe kann direkt unter dem Mikroskop am Bildschirm mit Richtreihen abgeglichen werden.

Dabei ist es möglich zwischen verschiedenen schematischen Darstellungen von Gefügebildern mit spezifischen Eigenschaften zu wählen. Jedes Bild ist individuell, die feinen Unterschiede können sich auf die Korngröße, die Karbidausfällung in Stahl oder auch die Qualität der Probenvorbereitung beziehen.

Das Modul stellt einen Diagrammserien-Generator zur Verfügung, mit dem eigene Vergleichsdiagramme erstellt werden können, z. B. für Pass-/Fail-Kriterien in der Qualitätskontrolle oder zum Erstellen der Zielvorgaben für Ihre individuellen Materialmikrostrukturen.

Richtreihen: Gefügebilder im Vergleich mit vorkonfigurierten oder individuell erstellten Diagrammen
Richtreihen: Gefügebilder im Vergleich mit vorkonfigurierten oder individuell erstellten Diagrammen

Erweiterte Bildgebung und Analyse

Automatisierung für Lichtmikroskope

ZEN core bietet Ihnen zahlreiche Optionen zur automatisierten Bildaufnahme:

 
Erweiterte Tiefenschärfe

Automatische Bilderfassung mit erweiterter Tiefenschärfe

 
Online-Panorama

Erfassung von Panoramabildern auf codierten und nicht codierten Tischen

 
Freiform-Kacheln

Einfache Definition von Anreihungsbereichen zur Erzeugung hochauflösender Bilder

 
Linkam-Tischsteuerung

Beobachten Sie temperierte Materialien.

 
Multi-Channel-Aufnahme

Erfassen Sie Bilder mit mehreren Kanälen automatisch in einem Durchgang, z. B. mehrere floureszierende Kanäle oder nur Hell- und Dunkelfeld.


ZEN Intellesis ermöglicht die Bildsegmentierung mit Machine Learning

Die Segmentierung ist eine der größten Herausforderungen für den Mikroskopiker von heute. Durch den Einsatz von maschinellem Lernen für die Bildsegmentierung können Sie jedoch Fehler und Verzerrungen vermeiden.

ZEN Intellesis Segmentation
Dieses Softwaremodul ermöglicht eine leistungsstarke Machine-Learning-Segmentierung mehrdimensionaler Bilder, einschließlich 3D-Datensätzen. Es wurde entwickelt, um mehrere Imaging-Modalitäten problemlos integrieren zu können und ausgezeichnete Segmentierungsergebnisse für Einzelbilder zu erreichen.

  • Analysieren Sie automatisch Bilder, die früher manuell verarbeitet wurden. Trainieren Sie ein Modell, um diese für Sie zu segmentieren.
  • Trainieren Sie die Software mit Ihrem eigenen Fachwissen – überlassen Sie aber der Software die mühsame Segmentierungsarbeit. Oder importieren Sie dedizierte Netzwerke, die woanders trainiert wurden (zum Beispiel auf www.APEER.com)
  • Profitieren Sie von der Zeitersparnis bei der Probenvorbereitung, denn die Segmentierung von ZEN Intellesis kann an Ihren individuellen Vorbereitungsprozess angepasst werden. Die Reproduzierbarkeit ist gewährleistet, denn das gespeicherte Analyseprogramm kann für nachfolgende Proben erneut verwendet oder jederzeit auf neue Proben umtrainiert werden.
Training des Segmentierungsmodells Automatisierte Segmentierung
Training des Segmentierungsmodells: Um dem System beizubringen, wie das Bild zu segmentieren ist, genügt es wenn der Benutzer einige Regionen einfärbt.
Automatische Segmentierung: Sobald ein Segmentierungsmodell trainiert ist, kann es wiederverwendet, geteilt und auf beliebig viele Bilder angewendet werden.

ZEN Intellesis Object Classification

Manchmal ist die Segmentierung von Objekten wie Partikeln, Einschlüssen oder Körnern einfach. Es kann aber schwierig sein, diese in unterschiedliche Typen zu klassifizieren. Auch Segmentierungstechniken, die auf maschinellem Lernen basieren, können in diesem Fall Probleme bereiten, da sie nur das Aussehen der Pixel berücksichtigen und keine abgeleiteten Eigenschaften von Pixelclustern (Objekten) berücksichtigen.

ZEN Intellesis Object Classification bietet jetzt eine einfache Möglichkeit, bereits segmentierte Objekte in Unterklassen zu klassifizieren. Ein Modell zur Objektklassifizierung kann darauf trainiert werden, die Klassifizierung automatisiert durchzuführen.

  • Anstatt einzelne Pixel zu betrachten, verwendet das Modell mehr als 50 pro Objekt gemessene Eigenschaften, um diese zu unterscheiden. Diese abgeleiteten Messungen umfassen geometrische und intensitätsbasierte Eigenschaften.
  • Da die Objektklassifizierung von ZEN Intellesis nicht mit Bilddaten, sondern mit tabellarischen Daten arbeitet, ist der Klassifizierungsprozess wesentlich schneller als die Segmentierung durch speziell trainierte tiefe neuronale Netze.
  • Darüber hinaus ist das Klassifizierungsverfahren unabhängig von einer vorherigen Segmentierung durch klassische Schwellwertverfahren oder Machine Learning.

Erfahren Sie mehr über ZEN Intellesis

Objektklassifizierung mit üblichen Nano- und Mikroplastikpartikeln (Polystyren (PS, hellblau), Polyethylen (PE, grün), Polyamidnylon 6 (PA, dunkelblau) und Polyvinylchlorid (PVC, rot)) auf einem Polycarbonatfilter, der mit ZEISS Sigma aufgenommen wurde. Diese korrelative Studie führt die Hochauflösung eines Elektronenmikroskops mit den Analysemöglichkeiten eine Raman-Mikroskops zusammen. Das Klassifizierungsmodell kann unterschiedliche Partikeltypen basierend auf deren Eigenschaften unterscheiden.

Infrastrukturlösungen für das vernetzte Labor

ZEN Connect: Qualitätsdaten im Kontext

Organisieren und visualisieren Sie mehrere Bilder und Daten derselben Probe im Kontext, an einem gemeinsamen Ort. Mit ZEN Connect-Workflows ist es bei der probenorientierten Analyse möglich, von einem schnell erstellten Übersichtsbild zum erweiterten Imaging zu wechseln – sogar mit mehreren Modalitäten. Die Korrelationen zwischen den unterschiedlich skalierten Bildern sind klar ersichtlich und es kann mühelos zwischen den Bildern navigiert werden. Die dabei entstehenden Abhängigkeiten der verschiedenen Datensätze lassen sich in der Client-Server-Datenbank ZEN Data Storage speichern, exportieren und wiederverwenden. Führen Sie exportierbare Linien-, Winkel- und Bereichsmessungen im Arbeitsbereich durch, innerhalb oder über ausgerichtete Bilder hinweg. Außerdem bietet ZEN Connect eine integrierte Berichterstellung für vernetzte Bilder und Datensätze.

Erfahren Sie mehr über ZEN Connect

ZEN Connect Benutzeroberfläche: Einfache Navigation auf unterschiedlich skalierten Bildern.
ZEN Connect Benutzeroberfläche: Einfache Navigation auf unterschiedlich skalierten Bildern.

Korrelative Mikroskopie

Korrelative Mikroskopie ist eine leistungsstarke Technik, mit der komplementäre Attribute aus verschiedenen Mikroskopietechniken kombiniert werden. Ziel ist es, möglichst viele aussagekräftige Informationen zu Werkstücken oder Materialproben zu erhalten. ZEN core ist die korrelative Mikroskopoberfläche von ZEISS und wurde speziell zur Verwendung in der Materialanalyse entworfen, die auf allen ZEISS Licht- und Elektronenmikroskopen mit motorisierten Probentischen verfügbar ist.

  • Übertragen Sie Proben zwischen LM- und EM-Systemen schneller als je zuvor.
  • Finden Sie Interessensbereiche auf den Proben automatisch wieder.
  • Verbessern Sie Effizienz und Durchsatz.
  • Erfassen Sie das Maximum an Informationen.
  • Treffen Sie fundierte Entscheidungen zu Ihren Proben.

Erfahren Sie mehr über korrelative Mikroskopie zur Materialanalyse


ZEN Data Storage: zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

Mit der Digitalisierung verbessert sich die mikroskopische Forschung immer weiter. Doch damit ist auch eine ständig wachsende Bild- und Datenmenge verbunden, die verwaltet werden muss. Das gilt umso mehr in Laboren mit mehreren Benutzern. Mit ZEN Data Storage können Sie die Bildaufnahme und Datenerfassung von nachgelagerten Aufgaben trennen, um die Arbeit im Labor noch effizienter zu gestalten:

  • Tauschen Sie Instrumentenvoreinstellungen, Workflows, Daten und Berichte problemlos untereinander aus.
  • Greifen Sie auf alle Daten aus unterschiedlichen Systemen und Standorten zu.
  • Ihre Analysen sind qualitätsgesichert und reproduzierbar.
  • Führen Sie multimodale Workflows durch und holen Sie das Maximum an Informationen aus Ihren Proben heraus.
  • Ihre IT-Abteilung wird bei der Implementierung von Sicherheits- und Backup-Maßnahmen unterstützt.
  • Kombinieren Sie ZEN Data Explorer mit ZEN Data Storage für einen mobilen Zugriff auf Ihre Daten. So können Sie Ihre Ergebnisse auch unterwegs am Tablet oder Smartphone untersuchen.
ZEN Data Storage: zentrales Datenmanagement im vernetzten Labor

GxP-Modul: Sichere und konforme Mikroskopieverfahren

Mit dem GxP-Modul machen Sie Ihre Workflows entlang einer integrierten Hardware- und Software-Lösung nachvollziehbar und entsprechen damit den Anforderungen regulierter Branchen. Jeder in ZEN core verfügbare Workflow kann GxP-konform gestaltet werden.

  • Benutzerverwaltung
  • Audit-Trail
  • Freigabeverfahren für Workflows
  • Elektronische Signaturen (auch Gegenzeichnungsfunktion)
  • Prüfsummenschutz von prozesskritischen Daten
  • Notfallwiederherstellung
Erfahren Sie mehr über das GxP-Modul
GxP-Modul: Validierung von elektronischen Unterschriften
GxP-Modul: Validierung von elektronischen Unterschriften

Modulpakete

Modulpaket Funktionen und Anwendungen Download / Mehr erfahren

ZEN core

  • Komplette Steuerung von motorisierten ZEISS Mikroskopen

ZEN core
Release Notes für ZEN core 3.5

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ZEN starter

  • Kostenlose Basisversion (keine Lizenz erforderlich)
  • Erweitern Sie diese Version mit spezifischen Modulen für Ihre Anwendungen

Testen Sie wichtige Funktionen des ZEN-Pakets

ZEN analyzer

  • Desktopversion von ZEN core
  • Datenverarbeitung, Analyse und Berichterstellung
  • Funktionen für multimodale Workflows und Datenbank-Konnektivität

Erfahren Sie mehr über den 60-tägigen kostenlosen Test von ZEN analyzer

Downloads

ZEISS ZEN core

Ihre Software-Suite für vernetzte Mikroskopie vom Materiallabor bis zur Produktion

Seiten: 33
Dateigröße: 8192 kB

Flyer: Routineaufgaben einfach erledigen.

ZEISS Mikroskopsoftware für Routineaufgaben im Labor

Seiten: 4
Dateigröße: 1519 kB

Detection, Quantification and Advanced Characterization of Non-metallic Inclusions in Steels

Detection, Quantification and Advanced Characterization of Non-metallic Inclusions in Steels. Description of NMI module in ZEN Core software.

Seiten: 10
Dateigröße: 1138 kB

In Situ Microscopy on the Melting and Cooling Behavior of an Al-Si 12 Alloy Using ZEISS ZEN core

Seiten: 6
Dateigröße: 2153 kB

Microscopy in Metal Failure Investigations

Determine the root cause of metal failure and learn about microscopy tool set for any metal failure investigation

Seiten: 8
Dateigröße: 4315 kB

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