MultiSEM – das schnellste Rasterelektronenmikroskop der Welt

Einführung

Revolutionieren Sie die Geschwindigkeit der Elektronenmikroskopie

MultiSEM setzt die Aufnahmegeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen frei. Jetzt können Sie Bilder im Zentimetermaßstab mit Nanometerauflösung aufnehmen. Dieses einmalige Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist für einen kontinuierlichen, verlässlichen 24/7-Betrieb ausgelegt. Richten Sie einfach Ihren durchsatzstarken Datenerfassungs-Workflow ein, und MultiSEM nimmt ganz von allein automatisch kontrastreiche Bilder auf.

Sie steuern MultiSEM mit der bewährten ZEN Imaging Software von ZEISS: Alle Optionen dieses leistungsstarken SEM sind auf eine intuitive und trotzdem flexible Weise geordnet.

Highlights

Nehmen Sie Ihre Bilder mit höchster Geschwindigkeit und mit Nanometerauflösung auf

Profitieren Sie von bis zu 91 parallel arbeitenden Elektronenstrahlen mit unerreichter Imaging-Geschwindigkeit.
Bilden Sie in weniger als 3 Stunden einen Sichtbereich von 1 cm² mit 4 nm Pixelgröße ab.
Erfassen Sie kontraststarke Bilder mit niedrigem Rauschen dank optimierter SE-Detektion.

Erfassung und Abbildung sehr großer Proben

MultiSEM ist mit einem Probenhalter ausgestattet, der einen Bereich von 10 cm x 10 cm abdeckt.
Bilden Sie die gesamte Probe ab und entdecken Sie alles, was Sie zur Beantwortung Ihrer wissenschaftlichen Fragen benötigen.
Automatisierte Aufnahmeprotokolle ermöglichen die Aufnahme großer Bereiche – Sie erhalten das detaillierte Bild im Nanomaßstab, ohne den makroskopischen Kontext zu verlieren.

ZEN Imaging Software

Sie steuern MultiSEM direkt und intuitiv mit ZEN – der bewährten Software für alle ZEISS Imaging-Systeme.
Intelligente automatische Abstimmungsroutinen unterstützen Sie beim Erfassen von kontraststarken, hochauflösenden Bildern.
Sie erstellen schnell und einfach komplexe, automatisierte Aufnahmeverfahren, die an Ihre Proben angepasst und auf sie abgestimmt sind.

Technologie

MultiSEM arbeitet parallel mit einer großen Zahl von Elektronenstrahlen (grün: Beleuchtungspfad) und Detektoren. Ein fein abgestimmter Detektionspfad (rot) erfasst große Mengen von Sekundärelektronen (SE) für das Imaging. Jeder Strahl führt eine synchronisierte Scanning-Routine an einer Probenposition aus, wodurch sich ein einzelnes Unterbild ergibt. Die Elektronenstrahlen sind in einem sechseckigen Muster angeordnet. Das vollständige Bild wird gebildet, indem alle Bildkacheln miteinander verbunden werden.

Für eine schnelle Datenaufzeichnung wird eine parallele Computerkonfiguration verwendet, was die gesamte Imaging-Geschwindigkeit erhöht. Bildaufnahme und Workflow-Kontrolle sind bei MultiSEM vollständig getrennt.

Integrierter Workflow

Serielle Array-Tomographie für die Aufnahme großer Volumen

Schnitte Ihrer in Harz eingebetteten biologischen Gewebe mit ATUMtome automatisch herstellen. Bis zu 1000 serielle Schnitte an einem einzigen Tag.

Das Schnittband auf einem Siliziumwafer fixieren und die Probe mit einem Lichtmikroskop von ZEISS aufnehmen. Mit der ZEN Imaging Software und Shuttle & Find erstellen Sie ein Übersichtsbild. Dann bringen Sie den Wafer zum MultiSEM und nutzen die Übersicht, um durch die Probe zu navigieren und Ihr Experiment mit der vertrauten ZEN-Bedienerschnittstelle zu planen.

Sie können Ihr gesamtes Experiment mit einem einzigen grafischen Steuerzentrum einrichten. Sparen Sie Zeit mit der effizienten automatisierten Sektionserkennung, um interessante Präparationsstellen zu erkennen und anzusteuern.

Research Partner Program

Verschaffen Sie sich in einer sehr frühen Phase Zugang zu bahnbrechender Technologie. Das ZEISS MultiSEM Research Partner Program wurde für Anwendungspioniere entwickelt. Nehmen Sie an diesem spannenden Programm teil, arbeiten Sie eng mit ZEISS zusammen und profitieren Sie von den Chancen dieser neuen Technologie.

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