The World’s Fastest Scanning Electron Microscopes
Revolutionieren Sie die Geschwindigkeit der Elektronenmikroskopie
MultiSEM setzt die Aufnahmegeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen frei. Jetzt können Sie Bilder im Zentimetermaßstab mit Nanometerauflösung aufnehmen. Dieses einmalige Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist für einen kontinuierlichen, verlässlichen 24/7-Betrieb ausgelegt. Richten Sie einfach Ihren durchsatzstarken Datenerfassungs-Workflow ein, und MultiSEM nimmt ganz von allein automatisch kontrastreiche Bilder auf.
Sie steuern MultiSEM mit der bewährten ZEN Imaging Software von ZEISS: Alle Optionen dieses leistungsstarken SEM sind auf eine intuitive und trotzdem flexible Weise geordnet.