ZEISS Xradia CrystalCT

Das erste kommerziell erhältliche microCT-System für kristallografische Bildgebung.

ZEISS Xradia CrystalCT ist ein bahnbrechendes microCT System, mit dem Sie die kristallografischen und mikrostrukturellen Geheimnisse Ihrer Proben ergründen können. Das Gerät ergänzt die leistungsstarke Technik der Computertomographie auf einzigartige Weise. Damit ist es in einem kommerziell verfügbaren CT-System erstmals möglich kristallografische Kornmikrostrukturen aufzudecken. Die Untersuchung polykristalliner Materialien (u. a. Metalle, additive Fertigung, Keramik) wird neu definiert und neue, tiefere Einblicke in die Materialforschung werden möglich.

Produktbild ZEISS Xradia CrystalCT
  • Zerstörungsfreies Mapping von Kornmorphologie in 3D.
  • Charakterisierung von Materialien wie Metallen, Legierungen und Keramiken.
  • Abbildung größerer Volumina und eines breiteren Spektrums von Probengeometrien mit höherem Durchsatz.
  • Optimierung der Materialcharakterisierung und -erkennung mit bahnbrechenden Diffraktionsabtastmodi.
  • Überragende Probenrepräsentativität als Grundlage für hochpräzise und realitätsgetreue Computermodelle.

Highlights

Schema DCT-Projektionsgeometrie
Schematische Darstellung der CrystalCT-Projektionsgeometrie. CrystalCT ist dual ausgerichtet und bietet Absorptionskontrasttomographie (ACT) und Beugungskontrasttomographie (DCT)

Mehr Forschungsmöglichkeiten mit DCT

ZEISS Research Microscopy Solutions und Xnovo Technology haben in Partnerschaft eine revolutionäre Beugungskontrasttomographie (DCT) -Funktion für den Einsatz in Laboratorien entwickelt. Mit der Ermittlung der Kornorientierung in 3D eröffnet die DCT in einer microCT auch technischen und industriellen Forschungslaboren die Möglichkeit, einphasige polykristalline Materialien in 3D darzustellen und damit eine Vielzahl von Metall-, Mineral-, Keramik-, Halbleiter- und pharmazeutischen Proben abzudecken. ZEISS Xradia CrystalCT wurde speziell entwickelt und umfasst präzise Blenden- und Strahlstoppereinheiten, die einen Bildausschnitt mit divergenten, polychromen Röntgenstrahlen beleuchten und die Empfindlichkeit auf schwächere Diffraktionssignale polykristalliner Proben ausweiten. Innovative DCT-Aufnahmemodi beseitigen die Einschränkungen hinsichtlich der Probengröße, sodass Sie mehr Probentypen untersuchen können. Die nahtlose, hochvolumige Ermittlung von Kornorientierung beschleunigt das Abtasten der Proben mit exakterer Darstellung der Daten.


DCT-Abbildung eines Doppel-T-Stücks aus Aluminium
Al-4wt%Cu-Probe mit den Messstreckenabmessungen 1,25 mm (Länge), 1,0 mm (Breite) und 0,5 mm (Dicke). Abtastung der Probe mit spiralförmigem Phyllotaxisschema mit HART.

Überragende Probenrepräsentativität dank fortschrittlicher Diffraktionsabtastmodi

ZEISS Xradia CrystalCT revolutioniert die Materialcharakterisierung, -modellierung und -erkennung mit bahnbrechenden Diffraktionsabtastmodi.

  • Beispiellose Probenrepräsentativität.
  • Möglichkeit zum Abtasten größerer Probenvolumina.
  • Vereinfachte Probenvorbereitung und erleichterter Umgang mit unregelmäßig/durch die Natur geformten Proben.
  • Höhere Geschwindigkeit.
  • Abstimmung auf die Probenspezifität.

Die hochentwickelten Modi überwinden einen Teil der bisherigen Herausforderungen der konventionellen DCT-Datenerfassung. Diese setzt voraus, dass der betrachtete Teil der Probe in allen Rotationswinkeln vollständig durch das Blendensehfeld (Blenden-FOV) beleuchtet wurde. Die Diffraktionsabtastmodi sind vom goldenen Schnitt der Natur inspiriert und liefern damit ein spiralförmiges Phyllotaxisschema, das die verschiedensten Probenformen und -größen abdeckt.


microCT-Bild von Stahlbeton
Quantitative volumetrische Analyse einer Stahlbetonprobe. Hohlräume sind violett dargestellt.

Eine leistungsstarke microCT-Plattform

ZEISS erzielt mit seiner leistungsstarken Xradia-Technologie weltweit führende Leistungen in einer microCT. Mit Hilfe des robusten Tischs, der flexiblen, softwaregesteuerten Positionierung von Quelle/Probe/Detektor und des großformatigen Detektors erzielen Sie hochwertige Scans mit hoher Auflösung und hervorragendem Kontrast. Bilden Sie ganze Objekte oder Geräte ab und decken Sie damit die Details im Inneren im vollständigen 3D-Kontext auf. Durch die höheren Aufnahmegeschwindigkeiten werden die Proben in kürzerer Zeit verarbeitet, Ihre Produktivität erhöht sich, die Rentabilität steigt. Die zerstörungsfreie CT ermöglicht außerdem In-situ- und 4D-Studien, mit denen die Auswirkungen variabler Bedingungen im Zeitverlauf nachvollziehbar werden. Das ZEISS Xradia-Imagingsystem vereint seine bewährte Hardware-Architektur mit modernsten Stabilitäts- und Driftkompensationsfunktionen. Durch die überragende Stabilität dieser renommierten Plattform übertrifft CrystalCT regelmäßig die Erwartungen, die man an das Leistungsvermögen einer microCT hat.


[Achtung!]

[Die Inhalte der Columns oberhalb und unterhalb dieses Kommentars sind völlig identisch. Oberhalb ist für Mobile View zuständig, unterhalb für Desktop View.]

Mehr Forschungsmöglichkeiten mit DCT

ZEISS Research Microscopy Solutions und Xnovo Technology haben in Partnerschaft eine revolutionäre Beugungskontrasttomographie (DCT) -Funktion für den Einsatz in Laboratorien entwickelt. Mit der Ermittlung der Kornorientierung in 3D eröffnet die DCT in einer microCT auch technischen und industriellen Forschungslaboren die Möglichkeit, einphasige polykristalline Materialien in 3D darzustellen und damit eine Vielzahl von Metall-, Mineral-, Keramik-, Halbleiter- und pharmazeutischen Proben abzudecken. ZEISS Xradia CrystalCT wurde speziell entwickelt und umfasst präzise Blenden- und Strahlstoppereinheiten, die einen Bildausschnitt mit divergenten, polychromen Röntgenstrahlen beleuchten und die Empfindlichkeit auf schwächere Diffraktionssignale polykristalliner Proben ausweiten. Innovative DCT-Aufnahmemodi beseitigen die Einschränkungen hinsichtlich der Probengröße, sodass Sie mehr Probentypen untersuchen können. Die nahtlose, hochvolumige Ermittlung von Kornorientierung beschleunigt das Abtasten der Proben mit exakterer Darstellung der Daten.

Überragende Probenrepräsentativität dank fortschrittlicher Diffraktionsabtastmodi

ZEISS Xradia CrystalCT revolutioniert die Materialcharakterisierung, -modellierung und -erkennung mit bahnbrechenden Diffraktionsabtastmodi.

  • Beispiellose Probenrepräsentativität.
  • Möglichkeit zum Abtasten größerer Probenvolumina.
  • Vereinfachte Probenvorbereitung und erleichterter Umgang mit unregelmäßig/durch die Natur geformten Proben.
  • Höhere Geschwindigkeit.
  • Abstimmung auf die Probenspezifität.

Die hochentwickelten Modi überwinden einen Teil der bisherigen Herausforderungen der konventionellen DCT-Datenerfassung. Diese setzt voraus, dass der betrachtete Teil der Probe in allen Rotationswinkeln vollständig durch das Blendensehfeld (Blenden-FOV) beleuchtet wurde. Die Diffraktionsabtastmodi sind vom goldenen Schnitt der Natur inspiriert und liefern damit ein spiralförmiges Phyllotaxisschema, das die verschiedensten Probenformen und -größen abdeckt.

Eine leistungsstarke microCT-Plattform

ZEISS erzielt mit seiner leistungsstarken Xradia-Technologie weltweit führende Leistungen in einer microCT. Mit Hilfe des robusten Tischs, der flexiblen, softwaregesteuerten Positionierung von Quelle/Probe/Detektor und des großformatigen Detektors erzielen Sie hochwertige Scans mit hoher Auflösung und hervorragendem Kontrast. Bilden Sie ganze Objekte oder Geräte ab und decken Sie damit die Details im Inneren im vollständigen 3D-Kontext auf. Durch die höheren Aufnahmegeschwindigkeiten werden die Proben in kürzerer Zeit verarbeitet, Ihre Produktivität erhöht sich, die Rentabilität steigt. Die zerstörungsfreie CT ermöglicht außerdem In-situ- und 4D-Studien, mit denen die Auswirkungen variabler Bedingungen im Zeitverlauf nachvollziehbar werden. Das ZEISS Xradia-Imagingsystem vereint seine bewährte Hardware-Architektur mit modernsten Stabilitäts- und Driftkompensationsfunktionen. Durch die überragende Stabilität dieser renommierten Plattform übertrifft CrystalCT regelmäßig die Erwartungen, die man an das Leistungsvermögen einer microCT hat.

Anwendungsbereiche

Metalle, Keramik, Halbleiter, Geowissenschaften, Pharmazeutika und vieles mehr

ZEISS Xradia CrystalCT bietet eine bahnbrechende, radikal andere Diffraktionsabtasttechnologie. Diese ermöglicht das Mapping von Korngrenzflächen in erheblich größeren Volumina in ihrem natürlichen Zustand, wobei realistische Probengeometrien gemäß den gängigen Anforderungen in Forschungs- und Industrielaboren abgebildet werden können. Im Gegensatz zu anderen Technologien zur Ermittlung der Kornorientierung ist mit der DCT eine zerstörungsfreie 3D-Bildgebung möglich.

Ermittlung der Kornorientierung einer Aluminium-Kupfer-Legierung
3D Ermittlung der Kornorientierung einer Aluminium-Kupfer-Legierung mit Absorptions- und Beugungskontrasttomographie.

Materialwissenschaften

  • Einander ergänzende Daten aus hochauflösender Absorptionskontrasttomographie und zerstörungsfreier 3D-Ermittlung von Kornorientierung mit Angaben zu Größe, Form, Ausrichtung und Korngrenzen.
  • Zerstörungsfreie Einblicke in innere Mikrostrukturen und überlagerte Kornorientierung, die mit Oberflächenverfahren wie Licht- oder Rasterelektronenmikroskopie nicht sichtbar werden.
  • Möglichkeit zur Segmentierung und Analyse von Daten, um quantitative 3D-Beschreibungen von Strukturen und Partikeln zu erhalten.
  • 4D-Bildgebung in Ex-situ- oder In-situ-Experimenten, die die Entwicklung von Materialien bei z. B. mechanischer Beanspruchung oder Korrosion zeigen.

Abbildung einer ultradünnen Stahlprobe mit fortschrittlichen Abtastmodi
3D-Ermittlung der Kornorientierung einer ultradünnen, ausgerichteten Elektrostrahlprobe mit den Abmessungen 4 mm (Laufrichtung), 2 mm (Querrichtung) und 0,08 mm (Normalenrichtung).

Metalle und Mineralien

  • Betrachten Sie die Korngröße und die Phasenentwicklung in 3D und gewinnen Sie damit Einblicke in die Leistung von Legierungen und deren Abhängigkeit von thermischen und mechanischen Prozessen.
  • Exportieren Sie reale 3D-Strukturen für physikalische Simulationen und prognostizieren Sie Materialeigenschaften (mechanisch, thermisch usw.) oder für digitale Gesteinssimulationen dank der zerstörungsfreien 3D-Tomographiedatenabbildung, -Charakterisierung und -Modellierung von Gesteinskernen (von etwa bis zu 10 cm) mit hohem Durchsatz.
  • 3D-Bildgebung mit hohem Kontrast für In-situ-Flussstudien oder 3D-Mineralogie.

Abbildung eines Halbleiter-Solarmoduls im HART-Modus (High Aspect Ratio Tomography)
3D-Ermittlung der Kornorientierung von Polysiliziummaterialien aus einem Solarmodul mit einer Höhe von 30 mm.

Fertigung

  • Verarbeiten Sie eine Vielzahl von Probengrößen, auch große Objekte, in ihrem vollständigen 3D-Kontext und ergänzen Sie die Bilder in bestimmten Anwendungen mit den Ergebnissen der 3D-Ermittlung der Kornorientierung.
  • Beurteilen die Druckqualität von Metallteilen aus dem 3D-Drucker anhand der Kristallographie.
  • Abtasten intakter Objekte mit hohem Durchsatz und kurzer Verarbeitungszeit.
  • Ergänzen oder ersetzen Sie physische Querschnitte - ohne Ihre Probe dafür beschädigen oder opfern zu müssen.

microCT-Abbildung eines intakten Mausmodells
Virtueller 2D-Querschnitt sowie 3D-Schnittdarstellung eines in Paraffin eingebetteten Mausembryos.

Life Sciences

  • Bilden Sie gefärbte oder ungefärbte Hart- und Weichgewebe und biologische Mikrostrukturen mit hohem Kontrast ab.
  • Rasche, zerstörungsfreie Verifizierung der Probenfärbung und der Position von Merkmalen für die nachfolgende Bildgebung mit 3D-Elektronenmikroskopie.

[Achtung!]

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Materialwissenschaften

  • Einander ergänzende Daten aus hochauflösender Absorptionskontrasttomographie und zerstörungsfreier 3D-Ermittlung von Kornorientierung mit Angaben zu Größe, Form, Ausrichtung und Korngrenzen.
  • Zerstörungsfreie Einblicke in innere Mikrostrukturen und überlagerte Kornorientierung, die mit Oberflächenverfahren wie Licht- oder Rasterelektronenmikroskopie nicht sichtbar werden.
  • Möglichkeit zur Segmentierung und Analyse von Daten, um quantitative 3D-Beschreibungen von Strukturen und Partikeln zu erhalten.
  • 4D-Bildgebung in Ex-situ- oder In-situ-Experimenten, die die Entwicklung von Materialien bei z. B. mechanischer Beanspruchung oder Korrosion zeigen.

Metalle und Mineralien

  • Betrachten Sie die Korngröße und die Phasenentwicklung in 3D und gewinnen Sie damit Einblicke in die Leistung von Legierungen und deren Abhängigkeit von thermischen und mechanischen Prozessen.
  • Exportieren Sie reale 3D-Strukturen für physikalische Simulationen und prognostizieren Sie Materialeigenschaften (mechanisch, thermisch usw.) oder für digitale Gesteinssimulationen dank der zerstörungsfreien 3D-Tomographiedatenabbildung, -Charakterisierung und -Modellierung von Gesteinskernen (von etwa bis zu 10 cm) mit hohem Durchsatz.
  • 3D-Bildgebung mit hohem Kontrast für In-situ-Flussstudien oder 3D-Mineralogie.

Fertigung

  • Verarbeiten Sie eine Vielzahl von Probengrößen, auch große Objekte, in ihrem vollständigen 3D-Kontext und ergänzen Sie die Bilder in bestimmten Anwendungen mit den Ergebnissen der 3D-Ermittlung der Kornorientierung.
  • Beurteilen die Druckqualität von Metallteilen aus dem 3D-Drucker anhand der Kristallographie.
  • Abtasten intakter Objekte mit hohem Durchsatz und kurzer Verarbeitungszeit.
  • Ergänzen oder ersetzen Sie physische Querschnitte - ohne Ihre Probe dafür beschädigen oder opfern zu müssen.

Life Sciences

  • Bilden Sie gefärbte oder ungefärbte Hart- und Weichgewebe und biologische Mikrostrukturen mit hohem Kontrast ab.
  • Rasche, zerstörungsfreie Verifizierung der Probenfärbung und der Position von Merkmalen für die nachfolgende Bildgebung mit 3D-Elektronenmikroskopie.

Einblicke in die Technologie

Überragende Probenrepräsentativität

Diagramm zur Probenrepräsentativität

Die Probenrepräsentativität - also die Sammlung großer Mengen realer Daten zur Erstellung hochpräziser, realitätsgetreuer Computermodelle - war schon immer eine Herausforderung bei der kristallographischen Bildgebung.

ZEISS Xradia CrystalCT und die hochentwickelten DCT-Modi überwinden einen Teil der bisherigen Herausforderungen der konventionellen DCT-Datenerfassung. Diese setzt voraus, dass der betrachtete Teil der Probe in allen Rotationswinkeln vollständig durch das Blendensehfeld (Blenden-FOV) beleuchtet wird.

Die fortschrittlichen Diffraktionsabtastmodi des ZEISS Xradia CrystalCT beinhalten:

  • Spiralförmige Phyllotaxis
    Die spiralförmige Phyllotaxisrotation wird für zylindrische Proben mit großem Seitenverhältnis herangezogen.
  • Spiralförmiges Phyllotaxisraster
    Das spiralförmige Phyllotaxisraster wird für Proben herangezogen, die breiter als das Sehfeld sind.
  • Spiralförmige Phyllotaxis mit HART
    Die Phyllotaxis mit HART (High Aspect Ratio Tomography) löst die Probleme bei der Abbildung flacher oder plattenähnlicher Proben.

3D-Kornrekonstruktion

Präzise, schnelle, automatisierte Indizierung der Korndaten

Nach der ersten Erfassung am Anfang des Workflows kann die Rekonstruktion beginnen. Laden Sie die Absorptionstomographie und die Diffraktionsdaten in GrainMapper3D. Jetzt können mögliche Kornorientierungen für einen gegebenen Polykristall mit Hilfe einer Kombination aus Rück- und Vorwärtsprojektionen identifiziert werden.

Anschließend erfolgt die automatisierte, iterative Suche nach Körnern im Probenvolumen. Die Ergebnisse der Kornrekonstruktion werden in Form von Schnittstapeln oder Volumendatensätzen gespeichert, die eine vollständige Beschreibung der indizierten Körner umfassen. Schließlich geben Sie die 3D-LabDCT-Ergebnisse über die eigenständige Viewer-Anwendung GrainMapper3D an Ihre Kollegen oder Kunden weiter.

3D-Ermittlung der Kornorientierung

3D-Ermittlung der Kornorientierung

Alle Informationen in einer einzigen Datei

Im letzten Schritt fassen Sie alle erforderlichen Informationen in einer einzigen Datei zusammen. Die Form, die Ausrichtung und die räumliche Position aller Körner im Probenvolumen werden in ein offenes Datenformat exportiert.

Vervollständigen Sie Ihr Experiment mit Folgeanalysen in personalisierten Softwareprogrammen oder Simulationswerkzeugen. Die fortschrittlichen Indizierungsroutinen unterstützen nunmehr auch komplexere Kristallsysteme mit geringerer Symmetrie.

Was ist künstliche Intelligenz?
Zum Vergrößern und für weitere Informationen auf die Grafik klicken
Was ist künstliche Intelligenz?
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Die Advanced Reconstruction Toolbox (ART) erweitert Ihr ZEISS Xradia 3D-Röntgenmikroskop (XRM) oder microCT mit zukunftsweisenden, durch künstliche Intelligenz (KI) gesteuerten Rekonstruktionstechnologien. Die grundlegenden Kenntnisse sowohl der Röntgenphysik als auch deren Anwendungen ermöglichen es Ihnen, einige der größten Herausforderungen beim Abbilden der Proben auf neue und innovative Weise zu bewältigen.

Erleben Sie selbst, wie sich mithilfe der einzigartigen ART-Modulen OptiRecon, PhaseEvolve und DeepRecon (in seinen zwei unterschiedlichen Versionen) die Datenaufnahmezeit und die Rekonstruktion beschleunigen lassen und die Abbildungsqualität ohne Einbußen bei der Auflösung optimieren können.

Die Advanced Reconstruction Toolbox bietet:

  • Verbesserte Datenaufnahme und -analyse als Grundlage für eine eindeutige, schnellere Entscheidungsfindung
  • Deutlich verbesserte Abbildungsqualität
  • Überragende Tomographie von im Inneren der Probe liegendem Teilbereich bzw. hoher Probendurchsatz für die verschiedensten Probenklassen
  • Darstellung feinster Unterschiede durch ein verbessertes Kontrast-Rausch-Verhältnis
  • Eine erheblich höhere Geschwindigkeit bei Probenklassen mit repetitivem Arbeitsablauf

3D-Röntgen-Datensatz eines Kameraobjektivs, aufgenommen mit ZEISS Xradia 620 Versa und DeepRecon Pro.

ZEISS OptiRecon zur iterativen Rekonstruktion

Viermal so schnell zu vergleichbaren Ergebnissen

ZEISS OptiRecon ist eine Form der iterativen Rekonstruktion, die den Probendurchsatz erheblich erhöht und gleichzeitig die Bildqualität optimiert.

  • So erzielen Sie einen bis zu 4-fach schnelleren Scanvorgang oder eine verbesserte Abbildungsqualität bei vergleichbarer Geschwindigkeit.
  • Diese wirtschaftliche Lösung bietet überragende Tomographiemöglichkeiten bzw. ausgezeichneten Durchsatz für die verschiedensten Probenklassen.
Beachten Sie die Leistungsfähigkeit von OptiRecon am Beispiel einer Probe aus dem Bereich Cosumer Electronics.
Beachten Sie die Leistungsfähigkeit von OptiRecon am Beispiel einer Probe aus dem Bereich Cosumer Electronics. Fertigungstoleranzen im Bereich des Kameraobjektiv eines Smartphones lassen sich jetzt viermal so schnell analysieren. Links: Standardrekonstruktion: Scandauer 90 Min. (1200 Projektionen). Mitte: Standardrekonstruktion: Scandauer 22 Min. (300 Projektionen). Rechts: OptiRecon: Scandauer 22 Min. (300 Projektionen).
Kameramodul eines Smartphones zur Demonstration des 4-fachen Probendurchsatzes mit vergleichbarer Bildqualität.
Kameramodul eines Smartphones zur Demonstration des 4-fachen Probendurchsatzes mit vergleichbarer Bildqualität.

Zum Vergleichen von rechts nach links ziehen:

Standardrekonstruktion #300Zoom OptiRecon #300Zoom
Standardrekonstruktion
OptiRecon

Anwendungsbeispiele

4-facher Probendurchsatz bei Schwarzpulver

Flexibilität für die Gesteinsuntersuchung
– Abbildungsqualität vs. Probendurchsatz

4-facher Probendurchsatz in der Batterieforschung

Flexibilität für die Batterieforschung
– Abbildungsqualität vs. Probendurchsatz

2-facher Probendurchsatz bei einem 2,5D-Halbleiterpaket (50 mm × 75 mm)

Verbesserte Abbildungsqualität bei einem 2,5D-Halbleiterpaket (50 mm × 75 mm)

2-facher Probendurchsatz bei einem Halbleiterpaket

Verbesserte Abbildungsqualität bei einem Halbleiterpaket


ZEISS DeepRecon Pro/Custom für Deep-Learning-gestützte Rekonstruktion

Schnellere Datenaufnahme mit Rekonstruktionstechnologie

Die beiden Versionen der DeepRecon-Technologie – DeepRecon Pro und DeepRecon Custom – arbeiten mit KI und optimieren dadurch die Abbildungsqualität und die Geschwindigkeit. Somit erhöhen Sie den Probendurchsatz, ohne dabei auf die RaaD-Technologie (Resolution at a Distance) verzichten zu müssen. Alternativ können Sie die Anzahl der Projektionen beibehalten und die Abbildungsqualität noch weiter erhöhen.

DeepRecon Pro zur Verringerung des Probenaufnahmezeit bei einer Probe aus keramischem Faserverbundwerkstoff (CMC): 10-fache Geschwindigkeit ohne Einbußen bei der Abbildungsqualität. Damit wird eine deutlich höhere zeitliche Auflösung für in situ Untersuchungen möglich. Links: Standardrekonstruktion (FDK): Scandauer 9 Std. (3001 Projektionen). Mitte: Standardrekonstruktion (FDK): Scandauer 53 Min. (301 Projektionen). Rechts: DeepRecon Pro: Scandauer 53 Min. (301 Projektionen).

Die Besonderheiten der beiden Varianten:

  • DeepRecon Pro ermöglicht für Spitzenleistungen in puncto Probendurchsatz und Abbildungsqualität bei einer Vielzahl von Anwendungen.
  • Durch das verbesserte Kontrast-Rausch-Verhältnis machen Sie feinste Unterschiede in den Bildern Ihrer Proben sichtbar.
  • Sie erzielen eine um bis zu 10-mal schnellere Datenaufnahme bei Probenklassen mit repetitivem Arbeitsablauf.
  • DeepRecon Pro eignet sich für Einzelproben, halbrepetitive und repetitive Arbeitsabläufe gleichermaßen.
  • Neue Machine-Learning-Netzwerkmodelle lassen sich direkt vor Ort über eine anwenderfreundliche Bedienoberfläche selbst trainieren.
  • Sie sind nicht mehr auf einen Machine-Learning-Experten angewiesen und DeepRecon Pro kann somit auch von Anwendern ohne besondere Vorkenntnisse bedient werden.
  • ZEISS DeepRecon Custom zielt speziell auf Anwendungen mit repetitiven Arbeitsabläufen ab und steigert die XRM-Leistung gegenüber DeepRecon Pro noch weiter.
  • ZEISS entwickelt in enger Zusammenarbeit mit Anwendern individuelle Netzwerkmodelle, die exakt auf die jeweiligen Anforderungen der repetitiven Anwendungen abgestimmt sind.

Anwendungsbeispiele

Keramikverbundwerkstoff (KVW) – 10-fach höherer Probendurchsatz

10-facher Probendurchsatz ohne Einbußen bei der Abbildungsqualität.

Smartwatch-Batterie – 4-fach höherer Probendurchsatz

4-facher Probendurchsatz mit gleichbleibender Detailgenauigkeit bei Kathodenpartikeln.

Smartwatch-Batterie – verbesserte Abbildungsqualität

Verbesserte Abbildungsqualität zur Darstellung kontrastarmer Graphitpartikeln

Akkumulator (Type 21700) – 8-fach höherer Probendurchsatz

8-facher Probendurchsatz mit vergleichbarer Abbildungsqualität.

2,5D Halbleiter-Zwischenkontaktschicht – 4-fach höherer Probendurchsatz

4-facher Probendurchsatz unter Beibehaltung einer Rissgröße von 1 µm.

2,5D Halbleiter-Zwischenkontaktschicht – verbesserte Abbildungsqualität

Verbesserte Abbildungsqualität bei identischer Scandauer.

Sandsteinbohrkern – 6-fach höherer Probendurchsatz

Der 6-fache Probendurchsatz, die verbesserte Abbildungsqualität und die geringere Anzahl an Bildartefakten bei der Aufnahme von Sandsteinfelskernen bewirkt eine präzisere Segmentierung, Quantifizierung und Simulation.

SmartShield

Einfacher Schutz Ihrer Probe zur Optimierung des experimentellen Aufbaus

Die SmartShield-Lösung schützt Ihre Probe und Ihr Mikroskop. Dieses automatisierte Kollisionsvermeidungssystem ist in das Scout-and-Scan-Kontrollsystem integriert. So können Sie souveräner als je zuvor auf den Xradia-Plattformen navigieren. Es funktioniert ganz einfach: Per Knopfdruck erstellt SmartShield eine digitale Schutzschicht gemäß den Abmessungen Ihrer Probe.

SmartShield bietet verschiedene Vorteile:

  • Höhere Effizienz der Bediener durch verbesserte Probeneinrichtung
  • Optimierte Benutzeroberfläche für Anfänger und Fortgeschrittene
  • Schutz für Ihre wertvollen Proben und Ihre Investition
  • Abtastqualität ohne Kompromisse
In diesem Video erfahren Sie mehr über den Workflow mit SmartShield.

Zubehör

In-situ-Experimente

Die Grenzen des wissenschaftlichen Fortschritts werden neu gesetzt

ZEISS Xradia-Röntgensysteme bieten die branchenführende 3D-Bildgebungslösung für die verschiedensten In-situ-Vorrichtungen, von Hochdruck-Flusszellen bis hin zu Spannungs-, Kompressions- und Thermo-Stages.

Lassen Sie die drei Raumdimensionen hinter sich und tauchen Sie ein in den zerstörungsfreien Ablauf der Röntgenuntersuchung, die Ihre Studien mit 4D-Experimenten auch in die Zeitdimension bringt. ZEISS Xradia microCT-Plattformen eignen sich für die verschiedensten In-situ-Vorrichtungen, von Hochdruck-Flusszellen über Spannungs-, Kompressions- und Thermo-Stages bis hin zu kundenspezifischen Designs. Ergänzen Sie ZEISS Xradia CrystalCT auf Wunsch mit dem optionalen In-situ-Schnittstellen-Kit. Es enthält ein mechanisches Integrations-Kit, eine robuste Kabelführung und andere Einrichtungen (wie Durchführungen) zusammen mit rezeptbasierter Software, die die einfache Kontrolle aus der Scout-and-Scan-Benutzeroberfläche heraus möglich macht. Wenn Sie die Grenzen der Auflösung Ihrer In-situ-Experimente neu setzen müssen, verwandeln Sie Ihr ZEISS Xradia CrystalCT in ein Xradia 620 Versa Röntgenmikroskop. Die Resolution at a Distance-(RaaD)-Technologie sorgt für die äußerst leistungsstarke tomographische Darstellung von Proben in In-situ-Kammern oder -Vorrichtungen.

Zugfestigkeitsprüfung von lasergeschweißtem Stahl unter steigender Belastung.
Zugfestigkeitsprüfung von lasergeschweißtem Stahl unter steigender Belastung.

Autolader

Mehr Effizienz im Umgang mit Proben

Maximieren Sie die Nutzung Ihres Systems mit dem optional erhältlichen Autolader, der für alle Modelle der ZEISS Röntgenmikroskop-Plattform erhältlich ist. Reduzieren Sie die Häufigkeit von Nutzerinteraktionen und erhöhen Sie die Produktivität, indem Sie mehrere Aufgaben in Wartelisten organisieren. Laden Sie bis zu 14 Probenstationen, die bis zu 70 Proben beinhalten können, und lassen Sie die Bearbeitung über Nacht oder über mehrere Tage hinweg laufen. Die einzigartige mechanische Stabilität ermöglicht das hochvolumige, quantitative und repetitive Scannen gleichartiger Proben.

Mit der Autolader-Option können bis zu 70 Proben gleichzeitig für die sequentielle Bearbeitung programmiert werden.
Mit der Autolader-Option können bis zu 70 Proben gleichzeitig für die sequentielle Bearbeitung programmiert werden.

Software

Erstellen Sie effiziente Arbeitsabläufe mit Hilfe des einfachen Steuerungssystems

Einfaches Auffinden einer Region of Interest und Spezifizieren von Scan-Parametern innerhalb des Scout-and-Scan-Kontrollsystems. Nutzen Sie die Vorteile des einfach zu bedienenden Systems in Ihrem Zentrallabor, in dem die Benutzer unterschiedliche Vorkenntnisse haben können.

Profitieren Sie von:

  • Interne Kamera zur Probenbetrachtung
  • Programmsteuerung (setzen, speichern, abrufen)
  • Unterschiedliche Energiequellen
  • Verschiedene Proben mit Autoloader-Option
  • Mikropositionierung mit einem einfachen Mausklick
Scout-and-Scan Kontrollsystem
Scout-and-Scan Kontrollsystem
Lithium-Ionen-Batterie
Lithium-Ionen-Batterie

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)
Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-SEM, SEM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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Downloads

ZEISS Xradia CrystalCT

Unlock the crystallographicand microstructural secretsof your samples.

Seiten: 32
Dateigröße: 10805 kB

Flyer: ZEISS Xradia CrystalCT

World’s first crystallographic imaging microCT for academic and industrial applications.

Seiten: 2
Dateigröße: 1081 kB

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White Paper

3D Crystallographic Imaging