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ZEISS Xradia Ultra Familie
Röntgen-Imaging im Nanobereich – Ihre Forschung im Tempo der Wissenschaft
Röntgennanotomographie an einem Synchrotron ermöglicht zerstörungsfreies 3D-Imaging im Nanobereich, allerdings muss man sich für eine sehr begrenzte Strahlzeit bewerben. Wie wäre es, wenn Sie keine Zeitzuteilung im Synchrotron mehr abwarten müssten? Stellen Sie sich vor, Sie hätten die Möglichkeiten eines Synchrotrons in Ihrem eigenen Labor. Die ZEISS Xradia Ultra Familie gibt Ihnen zerstörungsfreie 3D-Röntgen-Mikroskope (XRM) an die Hand, mit denen Sie Auflösungen im Nanobereich und in synchrotronähnlicher Qualität erzielen. Sie haben die Wahl zwischen zwei Modellen: ZEISS Xradia 810 Ultra und ZEISS Xradia 800 Ultra sind beide auf eine optimale Bildqualität für Ihre gängigsten Anwendungsgebiete abgestimmt. Ihre anspruchsvolle Forschung verdient nur die höchste Bildqualität und Systemzuverlässigkeit: Die Xradia Ultra Architektur integriert die fortschrittliche Röntgenoptiktechnologie eines Synchrotrons in einem Laborinstrument. Erstellen Sie Nanotomographien auf dem Niveau eines Synchrotrons – direkt in Ihrem Labor und ganz nach Ihrem eigenen Zeitplan. Mit 3D-Röntgen-Imaging im Nanobereich beschleunigen Sie Ihre Forschung in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Sciences, natürliche Ressourcen sowie in industriellen Anwendungsbereichen.
Ihre Vorteile:
- Bilden Sie Ihre Proben zerstörungsfrei in ihrer nativen Umgebung ab. Bewahren Sie Ihre Proben für andere Modalitäten mit korrelativen Workflows auf oder führen Sie einzigartig dreidimensionale In-situ-Experimente durch.
- Gewinnen Sie mehr Informationen per 3D-Röntgen-Imaging im Nanobereich, mit dem Sie selbst kleinste Details sehen – und das in einer räumlichen Auflösung von bis zu 50 nm und Voxelgrößen von bis zu 16 nm.
- Untersuchen Sie die mikrostrukturelle Entwicklung mit In-situ-Experimenten in 3D oder 4D.
- Charakterisieren Sie Ihre Proben umfassend: Sie können gemessene Nanostrukturen quantifizieren und die Ergebnisse in die Modellbildung einfließen lassen.
- Untersuchen Sie die verschiedensten Probentypen direkt nebeneinander (z. B. Hart- und Weichmaterial) und optimieren Sie die Bildqualität per Absorption und Zernike-Phasenkontrast.
- Sie können eine Vorauswahl Ihrer Proben treffen, bevor Sie das Synchrotron nutzen, und so Ihre Strahlzeitzuteilung optimal ausnutzen.
Highlights
Zerstörungsfreies Imaging im Nanobereich – der Turbo für Ihre Forschung
- Nutzen Sie das einzigartige zerstörungsfreie Imaging, um Phänomene im Nanobereich in ihrer nativen Umgebung dreidimensional zu beobachten.
- Profitieren Sie von dem derzeit einzigen Instrument, das die Lücke zwischen XRMs mit Submikronauflösung (z. B. ZEISS Xradia Versa) und hochauflösendem – allerdings zerstörendem – 3D-Imaging (z. B. FIB-SEMs) schließt.
- Mit den integrierten In-situ-Lösungen führen Sie fortschrittliches zerstörungsfreies 3D-/4D-Röntgen-Imaging direkt in Ihrem Labor durch, und das in einer Auflösung von bis zu 50 nm und einer Voxelgröße von bis zu 16 nm.
- Beschleunigen Sie Ihre Forschung indem Sie Ihr analytisches Portfolio mit diesen einzigartigen Möglichkeiten erweitern.

Rekonstruierte 2D-Schicht einer Kiefernnadel


Kontrast und Bildqualität auf höchstem Niveau
- Beobachten Sie Defekte in 3D, ohne die Proben zu zerstören oder die Daten durch Schnittartefakte zu verändern.
- Enthüllen Sie Details mit höchstem Kontrast und in überragender Bildqualität per Absorptions- und Zernike-Phasenkontrast. Kombinieren Sie Daten aus beiden Modi und decken Sie damit Merkmale auf, die mit nur einem Kontrast niemals erreichbar wären.
- Sowohl Xradia 810 Ultra als auch Xradia 800 Ultra sind auf die optimale Bildqualität für Ihre gängigsten Anwendungsgebiete abgestimmt. Welche Ausführung für Sie die richtige ist, ergibt sich aus dem Materialtyp, für den Sie Höchstleistungen in puncto Kontrast, Durchsatz und Materialdurchdringung erzielen möchten.
- Mit Xradia Ultra profitieren Sie von Röntgen-Imaging im Nanobereich mit synchrotronähnlichen Funktionen.
Erweitern Sie die Grenzen Ihres Labors
- Eröffnen Sie mit den synchrotronähnlichen Möglichkeiten völlig neue Einblicke. Sie sind nicht mehr auf Zeitzuteilungen im Synchrotron angewiesen und erzielen gleichwertige 3D-Einblicke im Nanobereich – direkt in Ihrem Labor und ganz nach Ihrem eigenen Zeitplan.
- Betreiben Sie 4D- und In-situ-Studien, die mit Imaging in der Laborumgebung bislang undenkbar waren.
- Führen Sie mechanische, thermische, elektrochemische sowie unter unterschiedlichen Umweltbedingungen durchgeführte Prüfungen direkt in situ durch.
- Nutzen Sie korrelative Workflows und beziehen Sie andere Modalitäten ein (z. B. ZEISS Xradia Versa, ZEISS Crossbeam, Analytik). Bieten Sie dem breiten Anwenderkreis einer Imaging Facility eine optimierte Benutzeroberfläche, zu der auch eine spezielle Python-API gehört.

Technologie
Entdecken Sie Merkmale im Nanobereich mit Röntgenstrahlen – in einem einzigartigen Aufbau
- 3D-Tomographiedatensätze mit Auflösungen im Nanobereich
- erhöhte Bildqualität
- Fokussiereffizienz
- bestmögliches Signal in begrenzter Experimentzeitdauer
- Visualisierung von Merkmalen in Proben mit geringer Absorption
Das Potenzial von Röntgenmikroskopen für hochauflösendes Imaging ist in der Vergangenheit an den Schwierigkeiten der Herstellung robuster, effizienter Röntgenoptiken gescheitert. ZEISS Xradia Ultra nutzt fortschrittliche Optiken aus der Synchrotronforschung. So sind Mikroskopiker in der Lage, die zerstörungsfreie Röntgentechnologie voll auszuschöpfen und 3D-Nano-Imaging direkt im eigenen Labor durchzuführen.
Nutzen Sie die Vorteile der Synchrotron-angepassten Architektur:
- reflektierende Kapillarkondensoren entsprechend den Quelleneigenschaften, für ein Imaging mit maximaler Flussdichte
- Fresnel-Zonen-Plattenobjektive, bei denen patentierte Nanofabrikationstechniken die höchste Auflösung und Fokussierungseffizienz für Ihre Forschung bieten
- Phasenring für Zernike-Phasenkontrast zur Darstellung von Details bei Proben mit niedriger Absorption
- Detektoren mit hohem Kontrast und hoher Effizienz auf der Basis von Szintillatoren, die optisch mit einem CCD-Detektor gekoppelt sind, um das beste Signal in Ihrer begrenzten Versuchszeit zu erhalten
- Drehen der Probe zur Erfassung von Abbildungen aus verschiedenen Projektionswinkeln, die dann in einem 3D-Tomographiedatensatz rekonstruiert werden

Anwendungsbeispiele
ZEISS Xradia Ultra Familie
Energiematerialien


Technische Materialien


Polymer- und Weichmaterialien


Life Sciences


Elektronik


Geowissenschaften


Zubehör
In-situ-Experimente im Nanobereich
Lückenschluss bei der In-situ-Prüfung
In der Materialforschung werden Eigenschaften untersucht, die außerhalb der Umgebungsbedingungen oder unter externen Stimuli hervortreten. Wenn Sie mikrostrukturelle Veränderungen beobachten und mit den Eigenschaften des Materials in Zusammenhang bringen müssen, sind In-situ-Prüfverfahren die ideale Lösung. Ebenso wichtig ist es, diese Veränderungen über die Zeit abzubilden und Probenvolumina zu untersuchen, die repräsentativ für die Materialeigenschaften stehen.
Xradia Ultra eignet sich hervorragend für In-situ-Experimente und Imaging im Nanobereich: Es ermöglicht die zerstörungsfreie Abbildung von 3D-Strukturen im Labor an Probengrößen, die die Eigenschaften des Gesamtmaterials abbilden, aber eine Auflösung haben, die den Phänomenen im Nanobereich gerecht wird.


In-situ-Beobachtung von Proben in ihrer nativen Umgebung
Erkennen Sie, wie Verformungsereignisse und Versagen mit den lokalen Merkmalen im Nanobereich zusammenhängen. Durch diese Ergänzung der bestehenden mechanischen Prüfverfahren gewinnen Sie Einblicke in das Verhalten auf verschiedenen Längenskalen. ZEISS Xradia Ultra Load Stage ermöglicht die nanomechanische In-situ-Prüfung – Kompression, Spannung, Eindringung – auf einzigartige Weise mit zerstörungsfreiem 3D-Imaging. So können Sie die Entwicklung der inneren Strukturen in 3D unter Belastung bei einer Auflösung von bis zu 50 nm untersuchen.
In-situ-Heizexperimente
Untersuchen Sie Materialveränderungen im Nanobereich, z. B. Abbauprozesse, Wärmeausdehnung und Phasenübergänge bei erhöhten Temperaturen. Der Norcada-Heiztisch für ZEISS Xradia Ultra ermöglicht das zerstörungsfreie 3D-Imaging im Nanobereich bei erhöhten Temperaturen. Die MEMS-Heiztechnologie erwärmt die Probe in Luft auf bis zu 500 °C. Sein flexibles Design ermöglicht es, die Probe zu heizen oder mit derselben Einheit eine elektrische Spannung für die Probe zu erzeugen.


Schnelle, einfache Probenvorbereitung mit LaserFIB
Erreichen Sie rasch Ihre Regions of Interest (ROI), selbst wenn diese tief im Inneren verborgen sind, oder produzieren Sie säulenförmige Proben für Prüfungen mit ZEISS Xradia Ultra oder im Synchrotron. LaserFIB vereint ein ZEISS Crossbeam FIB-SEM mit einem ultrakurz gepulsten Femtosekunden(fs)-Laser und legt damit die Grundlage für korrelative Workflows auf verschiedenen Längenskalen. Sie können Ihre Interessensbereiche („ROI“) beispielsweise anhand von zuvor aufgenommenen 3D-Röntgenmikroskop-Datensätzen ermitteln und mit dem „Cut-to-ROI“-Workflow gezielt zur weiteren Analyse auswählen. Der fs-Laser schneidet durch millimeterdickes Material und produziert Proben für die Analyse mit Xradia Ultra. Danach stehen Ihnen die FIB-SEM-Funktionen für Fräsen, Tomographie, Imaging und erweiterte Analytik im Nano- und Mikrometerbereich offen.
Software
Effiziente Workflows mit benutzerfreundlicher Software
Das innovative Scout-and-Scan™ System von ZEISS fördert Ihre Produktivität – so straffen Sie die Proben- und Scaneinrichtung. Die workflowbasierte Benutzeroberfläche führt Sie durch den Prozess: die Ausrichtung der Probe, die Identifizierung von Interessensbereichen und die Einrichtung von 3D-Scans. Mithilfe von Workflows können Sie mehrere Scans derselben Probe konfigurieren, um verschiedene Interessensbereiche abzubilden oder um verschiedene Imaging-Modi zu kombinieren. Das anwenderfreundliche System eignet sich ideal für zentrale Laboreinrichtungen mit Nutzern verschiedener Erfahrungsstufen. Fortgeschrittene Benutzer erhalten mithilfe der integrierten Python-API-Schnittstelle die volle Kontrolle über das Mikroskop und können so benutzerdefinierte Imaging-Aufgaben erstellen oder das Mikroskop in In-situ-Experimente einbinden.

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)
Diese fortschrittliche Softwarelösung dient der Analyse und Visualisierung von 3D-Daten, die mit unterschiedlichen Technologien wie Röntgen, FIB-SEM-, SEM und Helium-Ionen-Mikroskopie erhoben wurden. ORS Dragonfly Pro ist exklusiv über ZEISS erhältlich und bietet ein intuitives, vollständiges und anpassbares Toolkit zur Visualisierung und Analyse großer 3D-Graustufendaten. Dragonfly Pro ermöglicht Ihnen die Navigation und Annotation Ihrer 3D-Daten und die Erstellung von Mediendateien einschließlich Videos. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse.

Downloads
ZEISS Xradia Ultra Family
Nanoscale X-ray Imaging: Explore at the Speed of Science
Seiten: 33
Dateigröße: 10725 kB
ZEISS ORS Dragonfly
Outstanding 3D visualization with best-in-class graphics
Seiten: 2
Dateigröße: 689 kB
ZEISS Xradia Ultra Family - Flyer
Nanoscale X-ray Imaging: Explore at the Speed of Science.
Seiten: 3
Dateigröße: 816 kB
In Situ Observation of Mechanical Testing
at the Nanoscale
Seiten: 8
Dateigröße: 1650 kB
X-ray Nanotomography in the Laboratory
with ZEISS Xradia Ultra 3D X-ray Microscopes
Seiten: 15
Dateigröße: 6273 kB
3D Drill Core Scout and Zoom
For Gold Mineralization Characterization
Seiten: 4
Dateigröße: 1879 kB
In situ 3D Imaging of Crack Growth in Dentin
at the Nanoscale
Seiten: 6
Dateigröße: 1067 kB
In situ Uniaxial Compression
Of Single Crystals of HMX explosive during 3D XRM Imaging
Seiten: 5
Dateigröße: 988 kB
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