ZEISS Xradia 520 Versa New Update: LabDCT

ZEISS Xradia 520 Versa – Röntgen-Imaging im Submikrometerbereich

Entschlüsseln Sie kristallografische Informationen in Ihrem Labor

ZEISS Xradia 520 Versa erweitert die Grenzen Ihrer Forschung

Nutzen Sie die Vielseitigkeit von ZEISS Xradia 520 Versa, dem modernsten Modell der Xradia Versa-Produktfamilie, für Ihre wissenschaftliche und industrielle Forschung. Bilden Sie Proben mit Röntgenstrahlen zerstörungsfrei und in 3D ab. Setzen Sie auf branchenbeste Auflösung und Kontraste. Erweitern Sie die Möglichkeiten von zerstörungsfreiem Imaging. Innovative Kontrast- und Aufnahmetechniken ermöglichen es Ihnen, bislang unentdeckte Feinheiten zu suchen und zu entdecken.

Leistungen des Xradia 520 Versa

Eine defekte Silizium-Durchkontaktierung (TSV; Through-Silicon-Via, eine leistungsstarke Verbindung in einem Silizium-Wafer)

Eine defekte Silizium-Durchkontaktierung (TSV; Through-Silicon-Via, eine leistungsstarke Verbindung in einem Silizium-Wafer)

Eine defekte Silizium-Durchkontaktierung (TSV; Through-Silicon-Via, eine leistungsstarke Verbindung in einem Silizium-Wafer)
Eine defekte Silizium-Durchkontaktierung (TSV; Through-Silicon-Via, eine leistungsstarke Verbindung in einem Silizium-Wafer)
Verwendung von Scout-and-Zoom zur Identifizierung der Region of Interest; Zoom für einen unverstellten Blick auf den vermuteten Defekt. Mit freundlicher Genehmigung von ST Crolles

Erleben Sie Auflösung, die über Mikro-CT hinausgeht

Entdecken Sie mit ZEISS Xradia 520 Versa eine Vielzahl an laborbasierten Anwendungen, Probentypen und -größen. Profitieren Sie von einer Erweiterung Ihrer wissenschaftlichen Forschung jenseits der Grenzen gängiger projektionsbasierter Mikro- und Nano-CT-Systeme. Erfassen Sie Bilder mit einer räumlichen Auflösung von 0,7 µm und verfügbaren Voxel-Größen von mindestens 70 nm.

  • Entdecken Sie die hochauflösende Optik von Xradia 520 Versa. Wo die herkömmliche Tomografie auf eine einstufige geometrische Vergrößerung setzt, bietet Xradia 520 Versa einen einzigartigen zweistufigen Prozess.
  • Profitieren Sie von dem zweistufigen Prozess mit RaaD-Funktionen (Resolution at a Distance). Mithilfe von RaaD erhalten Sie eine Auflösung im Submikrometerbereich bei großen, flexiblen Arbeitsabständen aufrecht.
  • Statten Sie Ihr Xradia 520 Versa mit FPX (Flat Panel Extension) aus, um zerstörungsfreie Tomografien vom Inneren Ihrer Probe durchzuführen. Untersuchen Sie Proben mit einem 10x größerem Volumen und mit 2 – 5x höheren Durchsatz.

Auflösung auch aus großer Distanz
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Ein virtueller Querschnitt eines Mäuseknie-Datensatzes

Ein virtueller Querschnitt eines Mäuseknie-Datensatzes

Ein virtueller Querschnitt eines Mäuseknie-Datensatzes
Ein virtueller Querschnitt eines Mäuseknie-Datensatzes
Zeigt einen starken Absorptionskontrast auch bei mehreren Materialien geringerer Dichte

Verbessern Sie Ihre Bilder mit modernen Kontrasttechniken

Erhalten Sie Bilder schwieriger Proben mit erweiterten Kontrastfunktionen wie dem patentrechtlich geschützten, weiterentwickelten Absoptionskontrast oder dem einstellbaren Ausbreitungsphasenkontrast.

  • Nutzen Sie verbesserte Absorptionskontrastdetektoren, um die Erfassung kontrastbildender energiearmer Röntgenphotonen zu maximieren, die für die Abbildung von Materialtypen kritisch sind.
  • Visualisieren Sie Materialien mit niedrigen Ordnungszahlen oder biologische Proben, die normalerweise einen schwachen Absorptionskontrast aufweisen, mithilfe eines einstellbaren Ausbreitungsphasenkontrasts.
  • Maximieren Sie die Erkennbarkeit durch Dual-Energy-Untersuchungen von Merkmalen, die in einem einzigen Scan-Durchgang normalerweise nicht erkennbar sind.
Kontraste für Materialien mit niedriger Ordnungszahl
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In-situ-Verdichtung eines Metallschaums

In situ-Verdichtung eines Metallschaums

In-situ-Verdichtung eines Metallschaums
In situ-Verdichtung eines Metallschaums

Charakterisieren Sie Materialien in situ und in 4D

Charakterisieren Sie die 3D-Mikrostruktur von Materialien zerstörungsfrei. Arbeiten Sie zum ersten Mal unter simulierten Bedingungen – in situ – oder untersuchen Sie die Entwicklung Ihrer Probeneigenschaften im Zeitverlauf in 4D.

  • Bilden Sie einige Zoll große Proben im Submikrometerbereich in Klimakammern und mithilfe verschiedener In-situ-Vorrichtungen unter verschiedenen Bedingungen ab.
  • Profitieren Sie von einer anhaltend hohen Auflösung mit RaaD bei zunehmendem Abstand zwischen Röntgenstrahlquelle und Probe, während die Auflösung bei konventionellen Mikro-CT-Architekturen nachlässt, wenn Proben in großen In-situ-Kammern platziert werden.
  • Erfassen Sie Bilder bei hohem Durchsatz in einem großen Sehfeld mit FPX und untersuchen Sie Ihre Region of Interest auf der Probe zerstörungsfrei mit RaaD – und das alles in einem System.
Halten Sie die Auflösung in in situ aufrecht
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Die Technik hinter der Röntgenstrahloptik

Entdecken Sie das Vergrößerungskonzept

Entdecken Sie das Vergrößerungskonzept

Entdecken Sie das Vergrößerungskonzept
Entdecken Sie das Vergrößerungskonzept
Das Mikroskop arbeitet mit einer Kombination aus geometrischer und optischer Vergrößerung, um die Probe mit hoher Auflösung abzubilden. Dadurch erzeugt es eine Distanzauflösung oder Auflösung aus ferner Distanz (RaaD; Resolution at a Distance).

Profitieren Sie von einer Auflösung im Submikrometerbereich bei großen Arbeitsabständen, auch bekannt als Resolution at a Distance (RaaD). Die Xradia Versa-Architektur nutzt eine native, zweistufige Vergrößerung: Bilder werden zunächst wie in herkömmlichen Mikro-CTs geometrisch vergrößert. Das projizierte Bild fällt auf einen Szintillator, der Röntgenstrahlen in sichtbares Licht umwandelt. Ihr Bild wird daraufhin durch ein optisches Objektiv vergrößert, bevor es den Detektor erreicht. Ergänzen Sie Ihr System mit der optionalen Flat Panel Extension (FPX), um es noch flexibler zu machen. Mit dieser Kombination aus verschiedenen Detektorkonstruktionen können Sie verschiedenste Probengrößen und -arten effizient und genau untersuchen.

Highlights

Optimierung des Kontrasts für maximale Erkennbarkeit

Optimierung des Kontrasts für maximale Erkennbarkeit

Optimierung des Kontrasts für maximale Erkennbarkeit
Optimierung des Kontrasts für maximale Erkennbarkeit
Segmentierung von Al-Partikeln mit dem 2D-Histogramm; DSCoVer-Ergebnisse der kombinierten energiearmen und energiereichen XRM-Datensätze.

Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer)

Mit DSCoVer machen Sie sich die Interaktion von Röntgenstrahlen mit Materie je nach effektiver Atomzahl und Dichte einer Probe zunutze. Suchen Sie nach Merkmalen, die bei normalen Scans üblicherweise nicht erkennbar sind. Identifizieren Sie zum Beispiel mineralogische Unterschiede in Gestein und zwischen schwer zu erkennenden Materialien wie Silizium und Aluminium. Profitieren Sie von flexiblem Side-by-Side-Tuning zweier verschiedener Tomografien unter verschiedenen Imaging- und Probenbedingungen. Erfassen Sie mit DSCoVer Daten für duale Energieanalysen nahtlos und reibungslos.

Bessere Bildqualität bei kürzeren Scan-Zeiten

Bessere Bildqualität bei kürzeren Scan-Zeiten

Bessere Bildqualität bei kürzeren Scan-Zeiten
Bessere Bildqualität bei kürzeren Scan-Zeiten:
64-GB-Flash Chip, erfasst mit HART

High-Aspect Ratio Tomography (HART)

Erreichen Sie einen bis zu 2x höheren Durchsatz oder eine bessere Bildqualität beim Imaging flacher Proben wie Halbleiterbaugruppen und Platinen. Dank variabler Projektionsabstände können Sie mit HART entlang der Vorderseite flacher Proben weniger Projektionen und entlang der dünnen Seite mehr Projektionen erfassen. Bei diesen dichten, langen Ansichten entstehen anders als bei weniger dichten, kurzen Ansichten 3D-Daten.

The Automated Filter Changer offers 12 standard filters

Automatisierter Filterwechsler mit Platz für 12 Standardfilter

The Automated Filter Changer offers 12 standard filters
Automatisierter Filterwechsler mit Platz für 12 Standardfilter
Hier können noch 12 kundenspezifische Filter eingesetzt werden.

Automated Filter Changer (AFC)

Das Imaging anspruchsvoller Proben ist jetzt noch einfacher. Verwenden Sie den automatisierten Filterwechsler, um Ihren DSCoVer zu ergänzen, und profitieren Sie von gesteigerter Flexibilität für Ihre In-situ-Workflows. Stellen Sie Ihr Röntgenenergiespektrum mit Quellenfiltern auf dem AFC ab, der Platz für 12 Standardfilter und ein Dutzend weitere kundenspezifische Filter für neue Anwendungen aufweist. Wählen Sie Filter ganz einfach aus und zeichnen Sie Ihre Auswahl in Bildrezepten auf, so dass die Filter ohne Unterbrechung des Workflows gewechselt werden können.

Flexibles Imaging großer Proben

Flexibles Imaging großer Proben

Flexibles Imaging großer Proben
Flexibles Imaging großer Proben:
Beispiel: 6 Zoll großer Stereo-Lautsprecher

Weitfeldmodus (WFM) und Vertical-Stitching-Funktion

Bilden Sie große Proben mit einem vergrößerten lateralen Sehfeld ab oder verwenden Sie ein Standard-Sehfeld, um mithilfe von WFM eine höhere Auflösung in einer einzigen Tomografie zu erzielen. Profitieren Sie von einem größeren lateralen Sehfeld: ungefähr doppelt so breit wie im Standardmodus mit einem mehr als dreimal so großen 3D-Volumen. Bei Verwendung des Standard-Sehfeldes bietet WFM eine fast doppelt so hohe Voxel-Zahl. Kombinieren Sie WFM mit der verfügbaren Vertical Stitching-Funktion und bilden Sie damit große Proben ab, die breiter und höher sind, als das Standard-Sehfeld normalerweise zulässt.

 

 

Zubehör

Laboratory-based Diffraction Contrast (LabDCT)

Entschlüsseln Sie kristallografische Informationen in Ihrem Labor. Sie können mit dem erweiterten Imaging-Modul LabDCT die Orientierung von Kristallen direkt in 3D in einer zerstörungsfreien Tomografieumgebung visualisieren. Die Diffraktionskontrasttomografie (DCT), die früher nur auf einer begrenzten Anzahl an Synchrotron-Röntgengeräten verfügbar war, können Sie jetzt als gängiges Werkzeug für zerstörungsfreies 3D-Kristall-Mapping nutzen.

Erfassen und rekonstruieren Sie kristallografische Informationen von polykristallinen Proben wie Metallen und Legierungen. Daten aus der Absorptions- oder Phasenkontrasttomografie über die Kornorientierung werden direkt mit Merkmalen der Mikrostruktur, z. B. Risse, Porosität, Einschlüsse, korreliert. Es eröffnen sich neue Möglichkeiten zur Charakterisierung von Beschädigungen, Verformungen und Wachstumsmechanismen, die Sie mit 3D-Materialwissenschaften in Beziehung setzen können. So erlangen Sie mit leistungsstarken Imaging-Funktionen in 3D ein verbessertes Verständnis der grundlegenden Materialienwissenschaften.

Flat Panel Extension (FPX)

FPX let you rapidly scout your sample and zoom to regions of interest at high resolution

FPX let you rapidly scout your sample and zoom to regions of interest at high resolution

Bilden Sie selbst größere Proben mit hohem Durchsatz und branchenführender ZEISS Bildqualität ab. Verbessern Sie die Imaging-Flexibilität und steigern Sie mit FPX die Effizienz des Workflows für die industrielle und wissenschaftliche Forschung. Untersuchen Sie große Proben rasch, um Regions of Interest (ROI) zu identifizieren. Zoomen Sie in bestimmte Bereiche mit hoher Auflösung. FPX ist eine Erweiterung des Scout-and-Zoom-Workflows von Xradia 520 Versa. Bilden Sie das gesamte Sehfeld von Proben über einen Durchmesser von 5 Zoll mit einem hohen Durchsatz ab, z. B. Bohrkerne oder intakte Smartphones. Kombinieren Sie FPX mit Resolution at a Distance (RaaD) und profitieren Sie vom Imaging verschiedenster Probentypen in Hochauflösung.

OptiRecon

ZEISS OptiRecon für Versa 3D-Röntgenmikroskope

4x schnellere Resultate in 4 einfachen Schritten

ZEISS OptiRecon für Versa 3D-Röntgenmikroskope
ZEISS OptiRecon für Versa 3D-Röntgenmikroskope
Die gleiche Bildqualität in nur einem Viertel der sonst üblichen Aufnahmezeit

ZEISS OptiRecon implementiert Funktionen zur iterativen Rekonstruktion auf Versa-Röntgenmikroskopen, die dem Nutzer die optimale Auswahl zwischen Geschwindigkeit und Bildqualität erlauben. Mit dieser Anwendung erzielen Sie für typische Proben aus den Bereichen Öl & Gas, Bergbau und Metall die gleiche Bildqualität in nur einem Viertel der sonst üblichen Aufnahmezeit. Gleichzeitig liefert ZEISS OptiRecon deutlich bessere Resultate in Anwendungsbereichen, die bisher eine Herausforderung für gute Bildqualität darstellten.

Dank seiner proprietären, effizienten Implementierung erlaubt ZEISS OptiRecon die Rekonstruktion eines typischen Datensatzes von 1024 x 1024 x 1024 Voxeln in etwa drei Minuten – bedeutend schneller als üblich. Normalerweise erfordert die iterative Rekonstruktion einen hochqualifizierten Bediener mit der Expertise, die Prozessparameter für jeden Datensatz einzustellen. Die workflow-basierte Bedienoberfläche von ZEISS OptiRecon macht es einfach, diese Parameter ohne spezielle Kenntnisse in der tomographischen Rekonstruktion einzustellen.

Unerfahrene Benutzer können eine komplette Rekonstruktion normalerweise in weniger als 10 Minuten aufsetzen.

Nutzen Sie ZEISS OptiRecon für Ihre digitale Gesteinsphysik oder Mineralaufschließung, und setzen Sie Ihre eigenen Prioritäten bei Geschwindigkeit oder Bildqualität. ZEISS OptiRecon eröffnet neue Möglichkeiten für dynamische in situ Experimente mit bisher unerreichbarer Zeitauflösung.

AUTOLOADER

Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten.

Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten.

Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten.
Die Autoloader-Option ermöglicht es Ihnen, bis zu 14 Proben gleichzeitig zu programmieren und zu bearbeiten.

Steigern Sie die Effizienz der Probenhandhabung: Mit Autoloader können Sie Warteschlangen für Imaging-Aufträge für verschiedene Schichten oder über das Wochenende einrichten. Sie erhalten eine automatische Benachrichtigung, wenn der Auftrag abgeschlossen ist. Erzielen Sie präzise und wiederholbare Messungen von Proben. Profitieren Sie von der flexiblen Handhabung unterschiedlicher Probentypen in derselben Warteschlange. Reduzieren Sie Benutzereingriffe in Ihrem Forschungs- oder Industrielabor, bei der industriellen Prozessentwicklung, im Servicelabor oder Imaging-Labor an Universitäten auf ein Minimum.

Software

Dragonfly Pro - Your Visual Pathway to Quantitative Answers

Sämtliche Funktionen von Xradia 520 Versa sind nahtlos in das Scout-and-Scan-Kontrollsystem integriert. Dabei handelt es sich um eine effiziente Arbeitsprozessumgebung, mit der Sie Regions of Interest untersuchen und Scan-Parameter spezifizieren können. Das anwenderfreundliche System ist ideal geeignet für zentrale Laboreinrichtungen mit Nutzern verschiedener Erfahrungsstufen. Die Oberfläche bewahrt die Flexibilität, für die Xradia-Versa-Systeme bekannt sind, und erlaubt Ihnen, Scans noch einfacher einzurichten. Scout-and-Scan-Software bietet außerdem rezeptbasierte Wiederholbarkeit, die insbesondere für In-situ- und 4D-Forschungsanwendungen nützlich ist und Ihnen die Möglichkeit gibt, zukünftige Aufgaben besser zu kontrollieren und effizienter zu gestalten.

 

Neuheiten in Version 11:

  • Die automatisierte Vertical-Stitching-Funktion setzt einen neuen Industriemaßstab für das Imaging großer Proben auf Knopfdruck. Kombinieren Sie den Weitfeldmodus mit Vertical Stitching, um separate Tomografien zu einem großen, nahtlosen Bild zusammenzufügen und dadurch das Sehfeld für breitere und höhere Proben deutlich zu erweitern.
  • Die neue Auto-Reference-Funktion gestattet Ihnen, sich entlang der Z-Achse nach oben und unten zu bewegen sowie in die vorhandenen X- und Y-Richtungen, was insbesondere für die Abbildung von Proben mit großem Seitenverhältnis (z. B. Platinen) ideal ist.
  • Die adaptive Bewegungskompensation ist eine neue Methode zum Ausgleich des bei weichen Proben auftretenden Probendrifts während einer Tomografie.
  • Die neue Reconstructor-Scout-and-Scan-Anwendung arbeitet mit dem vielseitigen Automatic Reconstructor zusammen, um die Datenrekonstruktion flexibler zu machen.
  • Integrieren Sie eine Farbpalette und logarithmische Skalierung für eine bessere Datenvisualisierung mithilfe der neuen und verbesserten Histogrammfunktion.
  • Im Modell Xradia 520 Versa wurde der Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer) mit unserer neu patentierten Dual-Energy-Schnittstelle aktualisiert, die eine präzise Segmentierung verschiedener Materialtypen oder verschiedener Materialien mit ähnlichen Dichten ermöglicht.
Visualization and Analysis Software

Visualisierungs- und Analyse-Software

ZEISS empfiehlt Dragonfly Pro von Object Research Systems (ORS)

Die erweiterte Analyse-und Visualisierungs-Software für Ihre 3D Datensätze aus verschiedensten Technologien einschließlich Röntgenmikroskopie, FIB-REM, REM und Helium-Ionen-Mikroskopie.

Dragonfly Pro, ehemals Visual SI Advanced benannt, bietet eine High-Definition Visualisierungstechnik und branchenführende Graphik. Dragonfly Pro unterstützt eine Anpassung durch einfaches Python-Scripting. Anwender haben nun die totale Kontrolle über ihre 3D-Datennachbearbeitung und Workflows.

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Anwendungen

Downloads

ZEISS Xradia 520 Versa

Submicron X-ray Imaging: Extending the Limits of Your Exploration

Seiten: 25
Dateigröße: 8.948 kB

ZEISS Xradia Versa Family

Your 3D X-ray Microscope for Advanced Discovery

Seiten: 2
Dateigröße: 1.608 kB

Overview

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