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Das Hauptziel des Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) ist die Aufklärung und gezielte Nutzung von Struktur-Eigenschafts-Beziehungen. Wie führt die Struktur eines Bauteils oder Materials zu dessen endgültigen Eigenschaften? An welchen Stellschrauben können wir die Eigenschaften auf Basis dieses Wissens beeinflussen, um die optimale Leistung zu bekommen?

Um dieses Ziel zu erreichen ist das DCN mit modernsten Elektronen- und Röntgenmikroskopen ausgestattet, mit deren Hilfe Materialien im Größenbereich von cm bis nm charakterisiert werden können. Zusätzlich können auch Materialzusammensetzung, Kristallstruktur und 3D Morphologie analysiert werden.

Das DCN ist Teil des Center for Advancing Electronics Dresden (cfaed), des Exzellenzclusters der Technischen Universität Dresden. Aus diesem Grund liegt das Hauptaugenmerk in der Charakterisierung von Materialien für neuartige elektronische Bauteile. Darüber hinausgehend bearbeitet das DCN auch weitere Forschungsthemen und heißt Nutzer willkommen, die Geräte und Expertise für Nanoanalytik benötigen.
 

• Rasterelektronenmikroskopie, inklusive Elementanalyse mittels Energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS), sowie quantitativer Mikrostrukturanalyse mittels gebeugter Rückstreuelektronen (EBSD)
• Sub-Mikrometer-Röntgentomographie (700nm echte Auflösung)
• Prozessierung mittels fokussiertem Ionenstrahl (FIB), z.B. für TEM Probenvorbereitung