IMT Austria Info 04/16

ZEISS O-SELECT News

Stetig arbeiten wir an der Verbesserung unserer Produkte. Im Bereich der ZEISS O-Select, dem jüngsten „Kind“ in unserer Produktpalette, gibt es einige interessante Entwicklungen. Es freut mich sehr, dass ich Ihnen diese präsentieren darf:

  1. MultiParts – Gleichzeitige Messung mehrerer Bauteile:

    Besonders für die Messung von Teileserien bietet die MultiParts-Messung die optimale Lösung. Auf einen Blick erkennt der Anwender, ob für einzelne Bauteile alle Prüfmerkmale innerhalb der Toleranz (grün) oder, ob einzelne Prüfmerkmale in den Warngrenzen (gelb) oder außerhalb der Toleranz (rot) sind. Damit hat der Anwender die wichtigste Information grafisch dargestellt. Darüber hinaus besteht die Möglichkeit, einzelne Details einzublenden und die fehlerhaften Prüfmerkmale zu identifizieren.

    Bei dieser Anwendung profitiert der Benutzer außerdem vom Gesamtsystem der ZEISS O-SELECT: Der große Touchscreen ermöglicht eine einfache und direkte Interaktion und erleichtert durch die große Darstellung die Zuordnung der Bilddarstellung zu den realen Bauteilen auf der ZEISS O-SELECT.

  2. Erweiterter Messbereich: Der Verschiebetisch

    Mit dem optionalen Verschiebetisch vergrößert sich der Messbereich in der X-Achse jetzt um etwa 100 Millimeter. Dementsprechend können größere Werkstücke mit einem einzigen Prüfplan gemessen werden.

    Das Aufteilen des Prüfplans für längere Werkstücke ist nicht mehr erforderlich. Das System ist nun für ein deutlich größeres Teilespektrum einsetzbar. Auch der Programmieraufwand wird im Vergleich zur vorherigen Messmethode großer Werkstücke deutlich reduziert.

  3. Manuelle Vorausrichtung - Neue Ausrichtemethoden:

    Mit der ZEISS O-SELECT Software erfolgt die Vorausrichtung bei jeder Messung automatisch. Jedoch können in manchen Fällen zusätzliche manuelle Ausrichtemethoden erforderlich sein. Die Navigation Bar (Hauptnavigationsleiste am linken Bildschirmrand) ist jetzt durch den Schritt „Ausrichtung“ erweitert. Hier können die 2-1-Ausrichtung und die Standardausrichtung durchgeführt werden. Sowohl Bilder als auch CAD Modelle können als Referenz verwendet werden.

    Diese Funktion ist unter anderem in den folgenden Fällen nützlich: 
    • bei einem versehentlichen Verschieben des Werkstücks 
    • bei rotationssymmetrischen Werkstücken, deren spezifischen
      Eigenschaften nur im Auflicht erkennbar sind 
    • bei Verwendung unterschiedlicher Aufspannungen für baugleiche
      Werkstücke 
    • für Werkstücke, deren Kontur lediglich an einem bestimmten Teil des
      Profils übereinstimmen

  4. SnapViews: Spezielle Ansichten speichern und protokollieren

    Aktuelle Ansichten können in der ZEISS O-SELECT Software 1.4.0 als "SnapView" gespeichert werden. Dabei werden die Messelemente und Prüfmerkmale der aktuellen Ansicht ebenfalls übernommen. Bei der Prüfplanerstellung werden die SnapViews mit einem Klick definiert. Im CNC-Ablauf werden die entsprechenden Ansichten automatisch gespeichert. 
    Die Ausgabe der SnapViews im Standardprotokoll oder einem eigenen ViewProtocol ist möglich.

  5. ZEISS PiWeb reporting: Neue Protokollvorlage "ViewProtocol"

    Von der SnapView Funktionalität bis zum fertigen Protokoll: mit Mit dem ViewProtocol können Ergebnisse der Messung direkt mit dem Bauteil und Fähnchen oder Falschfarbendarstellungen gespeichert und präsentiert werden.

  6. ZEISS PiWeb reporting: Neue Protokollvorlage "TableProtocol"

    Mit dem neuen TableProtocol hat man den Messwerteverlauf fest im Blick. Zeilenweise werden für jedes Prüfmerkmal die letzten zehn Messergebnisse dargestellt. Farbliche Markierungen helfen, die kritischen Prüfmerkmale schnell zu identifizieren.

  7. ZEISS PiWeb reporting plus: Neue Protokollvorlage "ProcessProtocol"

    Mit dem neuen "ProcessProtocol" stehen nun in der Option ZEISS PiWeb reporting plus weitere Möglichkeiten für statistische Auswertungen zur Verfügung. Die neue Protokollvorlage ProcessProtocol kann ohne weitere Anpassungen direkt für die Analyse genutzt werden. Neben neuen grafischen Ausgaben können auch statistische Kennwerte wie cp und cpk ermittelt und ausgegeben werden.

  8. PiWeb reporting plus: Zusätzliche Standalone-Lösung

    Oft ist es gewünscht, Messdaten auch nachträglich noch einmal auszuwerten oder für Dritte aufzubereiten. Mit der Standalone-Lösung von ZEISS PiWeb reporting plus (optional) gibt es ein neues Softwaretool, das einen Zugriff auf umfangreiche Möglichkeiten zur Protokollierung und Auswertung bietet. Neben der Nutzung einer Vielzahl von Protokollvorlagen besteht hier die Möglichkeit, mit dem leistungsstarken ZEISS PiWeb Designer eigene Protokollvorlagen zu erstellen.

  9. ZEISS PiWeb reporting plus: Anzahl der Messungen verwalten

    Die Integration des ZEISS PiWeb reporting ist eine der vielen Stärken der ZEISS O-SELECT Software. Mit der ZEISS O-SELECT Software 1.4 ist es möglich, den Anzeigeumfang der Protokolle noch komfortabler zu steuern und die Anzahl der anzuzeigenden Messungen einzustellen. 
    Die Einstellung wird vom Trendprotokoll und dem Prozessprotokoll unterstützt. Mit der Einstellung kann gesteuert werden, wie viele Messungen in der ZEISS PiWeb reporting Vorlage angezeigt werden.

  10. ZEISS PiWeb sbs und ZEISS PiWeb Enterprise: Anbindung der ZEISS PiWeb Familie

    Mit dem Release ZEISS O-SELECT Software 1.4 wird erstmals die Möglichkeit geboten, die Daten aus den lokalen Messstationen an eine zentrale Datenbank zu schicken.

  11. Das Ziel der Messaufgabe immer im Blick: das Prüfmerkmalskonzept

    Bis jetzt wurden alle programmierten Elemente in einer gemeinsamen Liste aufgeführt. Eine Unterscheidung zwischen Prüfmerkmal und Messelement war nicht gleich offensichtlich. In ZEISS O-SELECT Software 1.4 werden die Prüfmerkmale und Messelemente in getrennten Listen dargestellt.

  12. Einfach Programmieren: Direkte Übernahme von Elementen aus dem CAD-Modell

    Mit Click&Pick können aus CAD-Modellen jetzt Messelemente und Kurven in den Prüfplan übernommen und für die Erzeugung von Prüfmerkmalen verwendet werden. Die entsprechenden Soll-Werte werden automatisch aus dem CAD-Modell übernommen.

  13. CAD-Modelle entfernen

    Der Explorer erlaubt jetzt Mehrfachselektion. Sind nur CAD-Modelle selektiert, so können diese gelöscht werden.

  14. Neue Auswertemethoden: Messung einzelner Kurven

    Bisher war es mit der ZEISS O-SELECT bereits möglich, das gesamte CAD-Modell als Gesamt-Kurve mit dem Werkstück zu vergleichen. Jetzt können zusätzlich einzelne Kurven definiert und ein Soll-Ist-Vergleich durchgeführt werden. Für jede Kurve kann eine eigene Toleranz vorgegeben werden.

  15. Noch angenehmer Programmieren: Undo und Redo

    Bisher konnten Aktionen, wie das Entfernen eines Elements, nicht rückgängig gemacht werden. Korrekturen waren nur über Umwege möglich. Mit O-SELECT Software 1.4.0 können jetzt eine oder mehrere Aktionen rückgängig gemacht („undo“) oder wiederholt („redo“) werden.

  16. Reihenfolge der Prüfplanelemente im Explorer mit der Tastatur verschieben

    Die Reihenfolge der Prüfplanelemente kann im Explorer mit der Tastenkombination Alt + ↑ und Alt + ↓ geändert werden.

  17. Vergrößertes Auswahlfenster bei der Autovervollständigung

    Durch die Funktion der Autovervollständigung ist es sehr komfortabel möglich, die Angabe von Referenzelementen für beispielsweise Durchmesser, Rundheiten oder Winkeln zum Einsatz zu machen. Die Auswahlmöglichkeiten sind nun durch längere Listeneinträge erweitert worden.

Haben Sie dazu, oder zu anderen ZEISS Produkten Fragen? Wir stehen Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung. Am einfachsten und schnellsten unter:

sales .metrology .at @zeiss .com

05 93477 777